数字电路IDDT测试生成及故障诊断技术研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-15页 |
| ·研究背景和意义 | 第11-12页 |
| ·集成电路测试生成技术的发展 | 第12-14页 |
| ·国内外研究现状 | 第12-13页 |
| ·目前存在的难题与研究方向 | 第13-14页 |
| ·本文研究内容 | 第14-15页 |
| 第二章 电源电流测试技术概述 | 第15-23页 |
| ·静态电流测试技术 | 第15-17页 |
| ·静态电流测试原理 | 第15-16页 |
| ·静态电流检测电路 | 第16-17页 |
| ·动态电流测试技术 | 第17-19页 |
| ·动态电流测试原理 | 第17页 |
| ·动态电流测试生成 | 第17-19页 |
| ·全速电流测试 | 第19页 |
| ·故障模型 | 第19-22页 |
| ·固定故障模型 | 第20页 |
| ·开路故障模型 | 第20-21页 |
| ·串扰故障模型 | 第21-22页 |
| ·桥接故障模型 | 第22页 |
| ·时延故障模型 | 第22页 |
| ·本章小结 | 第22-23页 |
| 第三章 数字电路IDDT 测试生成方法研究 | 第23-37页 |
| ·异或门的IDDT 特性分析 | 第23-26页 |
| ·平均IDDT 概述 | 第23-24页 |
| ·平均IDDT 与逻辑跳变关系 | 第24-25页 |
| ·平均IDDT 与输出负载关系 | 第25页 |
| ·异或门平均IDDT 估计方法 | 第25-26页 |
| ·基于遗传算法的数字电路IDDT 测试生成 | 第26-30页 |
| ·遗传算法概述 | 第26-27页 |
| ·基于单故障的精简测试集生成方法 | 第27-29页 |
| ·基于复杂故障模型的测试集生成方法 | 第29-30页 |
| ·实验结果分析 | 第30-36页 |
| ·实验电路和参数设置 | 第30-32页 |
| ·单故障测试生成结果分析 | 第32-34页 |
| ·复杂故障测试生成结果分析 | 第34-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第四章 数字电路故障诊断方法研究 | 第37-53页 |
| ·特征提取技术 | 第37-39页 |
| ·小波分析 | 第37-38页 |
| ·归一化和主成分分析数据预处理技术 | 第38-39页 |
| ·智能故障诊断技术 | 第39-41页 |
| ·BP 神经网络 | 第39-40页 |
| ·径向基网络 | 第40-41页 |
| ·故障诊断流程 | 第41页 |
| ·实验结果分析 | 第41-52页 |
| ·基于测试生成的故障诊断结果分析 | 第41-47页 |
| ·单故障诊断结果分析 | 第41-44页 |
| ·复杂故障诊断结果分析 | 第44-47页 |
| ·时序电路故障诊断结果分析 | 第47-52页 |
| ·实验电路 | 第47-49页 |
| ·实验结果分析 | 第49-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 总结与展望 | 第53-54页 |
| ·本文工作总结 | 第53页 |
| ·展望 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第59页 |
