| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-20页 |
| ·数控技术的研究现状和发展趋势 | 第10-13页 |
| ·性能方向的发展 | 第10-11页 |
| ·功能方向的发展 | 第11页 |
| ·开放式体系结构的发展 | 第11-12页 |
| ·STEP-NC 技术 | 第12-13页 |
| ·数控技术中可靠性技术的研究 | 第13-17页 |
| ·数控技术中可靠性研究的重要性 | 第13-15页 |
| ·数控机床可靠性技术的研究 | 第15-16页 |
| ·数控系统可靠性技术的研究 | 第16-17页 |
| ·数控机床和数控系统可靠性研究的总结 | 第17页 |
| ·课题的提出及意义 | 第17-18页 |
| ·论文的主要研究内容 | 第18-20页 |
| 第二章 嵌入式数控系统设计的可靠性工程研究 | 第20-35页 |
| ·软件可靠性的相关定义 | 第20-22页 |
| ·影响软件可靠性的因素 | 第22-23页 |
| ·影响嵌入式数控系统软件可靠性的因素 | 第23-25页 |
| ·嵌入式数控软件可靠性设计工程 | 第25-34页 |
| ·生存期内的软件开发过程 | 第25-28页 |
| ·基于生存期的嵌入式数控系统可靠性工程 | 第28-34页 |
| ·早期阶段的可靠性工程 | 第28-32页 |
| ·中期阶段的可靠性工程 | 第32-34页 |
| ·后期阶段的可靠性工程 | 第34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第三章 数控系统的结构可靠性研究 | 第35-55页 |
| ·数控系统平台的选择 | 第35-39页 |
| ·前后台结构 | 第36-37页 |
| ·基于实时操作系统平台 | 第37-38页 |
| ·基于桌面操作系统平台 | 第38页 |
| ·嵌入式数控软件系统层次化体系结构 | 第38-39页 |
| ·Littlewood 结构可靠性模型及其特点 | 第39-41页 |
| ·Littlewood 模型简介 | 第39-40页 |
| ·Littlewood 模型的特点 | 第40-41页 |
| ·Littlewood 模型的改进 | 第41-47页 |
| ·基于功能分析的Littlewood 模型的改进方法研究 | 第41-43页 |
| ·系统单一功能失效密度模型的确定 | 第43-45页 |
| ·改进的Littlewood 数学模型的建立 | 第45-47页 |
| ·Improve-Littlewood 模型应用实例 | 第47-54页 |
| ·TDNCL4 数控系统层次化结构简介 | 第47-48页 |
| ·TDNCL4 系统功能分析及系数矩阵X 和Y 的确定 | 第48-51页 |
| ·系统功能利用率向量的确定 | 第51-53页 |
| ·系统失效密度和可靠度模型的建立 | 第53-54页 |
| ·模型对数控系统可靠性设计的意义 | 第54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第四章 系统模块的可靠性重要度评定 | 第55-68页 |
| ·影响数控软件模块可靠性重要度评定的因素分析 | 第55-62页 |
| ·软件模块的规模 | 第56-59页 |
| ·软件模块规模及其度量方法 | 第56页 |
| ·功能点度量方法 | 第56-59页 |
| ·软件模块的复杂性 | 第59-60页 |
| ·模块的复杂性及其度量方法 | 第59-60页 |
| ·McCabe 软件复杂性度量方法 | 第60页 |
| ·硬件的影响 | 第60-62页 |
| ·硬件对软件模块设计的影响分析 | 第60-62页 |
| ·硬件对软件模块设计影响的度量 | 第62页 |
| ·结构可靠性失效密度影响因子的影响 | 第62页 |
| ·数控软件模块可靠性重要度评定方法 | 第62-64页 |
| ·模糊综合评价的数学模型 | 第62-64页 |
| ·隶属度以及权重集的确定 | 第64页 |
| ·重要度评定 | 第64页 |
| ·实例研究 | 第64-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第五章 数控系统最小偏差插补算法的实时可靠性设计研究 | 第68-86页 |
| ·最小偏差法插补原理分析 | 第68-75页 |
| ·直线插补原理 | 第69-71页 |
| ·圆弧插补原理 | 第71-75页 |
| ·直接加减速控制方法研究 | 第75-78页 |
| ·直线加减速控制 | 第75-77页 |
| ·圆弧加减速控制 | 第77-78页 |
| ·数控系统的实时插补可靠性设计技术研究 | 第78-84页 |
| ·最小偏差插补算法面向实时性的改进 | 第79-82页 |
| ·数控系统插补运行时间特性分析 | 第82-84页 |
| ·本章小结 | 第84-86页 |
| 第六章 数控系统详细设计和实现阶段的可靠性研究 | 第86-107页 |
| ·可靠性设计方法研究 | 第86-93页 |
| ·抗干扰技术 | 第86-88页 |
| ·指令冗余技术 | 第87页 |
| ·软件陷阱技术 | 第87页 |
| ·软件“看门狗”技术 | 第87-88页 |
| ·输入信号的重复检测技术 | 第88页 |
| ·输出信号的刷新技术 | 第88页 |
| ·检错及纠错编码 | 第88-89页 |
| ·容错技术 | 第89-91页 |
| ·时间准则 | 第91-92页 |
| ·容错算法 | 第92-93页 |
| ·可靠性设计方法应用实例 | 第93-105页 |
| ·存储系统的研究和可靠性设计 | 第94-98页 |
| ·系统记录区的可靠性设计 | 第94-96页 |
| ·扇区管理的可靠性设计 | 第96-98页 |
| ·参数输入系统的可靠性研究和设计 | 第98-100页 |
| ·输入输出的可靠性设计 | 第100页 |
| ·串口通讯的可靠性设计 | 第100页 |
| ·螺纹插补过程的可靠性设计 | 第100-102页 |
| ·系统启动过程的自检 | 第102-105页 |
| ·本章小结 | 第105-107页 |
| 第七章 数控系统可靠性测试技术的研究 | 第107-116页 |
| ·数控系统的功能可靠性测试研究 | 第107-111页 |
| ·白盒测试与黑盒测试 | 第107-108页 |
| ·功能可靠性测试流程 | 第108页 |
| ·数控系统功能的可操作概图 | 第108-109页 |
| ·功能测试用例的设计 | 第109-111页 |
| ·数控系统的实时可靠性测试研究 | 第111-113页 |
| ·数控系统实时性测试的重点 | 第111-112页 |
| ·实时可靠性测试方法研究 | 第112-113页 |
| ·TDNCL4 数控系统的可靠性测试 | 第113-115页 |
| ·功能可靠性测试 | 第113-114页 |
| ·实时可靠性测试 | 第114-115页 |
| ·本章小结 | 第115-116页 |
| 第八章 结论与展望 | 第116-118页 |
| 参考文献 | 第118-125页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第125-127页 |
| 致谢 | 第127页 |
