| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| ·选题背景和意义 | 第10-12页 |
| ·承压阀门阀体缺陷射线检测的意义 | 第10-11页 |
| ·阀门检验常用的无损检测方法的评析 | 第11-12页 |
| ·射线探伤的原理及射线检测技术分类 | 第12-15页 |
| ·射线探伤的原理 | 第12-13页 |
| ·射线检测技术的分类 | 第13-15页 |
| ·阀门射线检测现状的评析 | 第15页 |
| ·研究目的及内容安排 | 第15-17页 |
| ·研究目的 | 第15页 |
| ·内容安排 | 第15-17页 |
| 第二章 射线无损检测技术基础 | 第17-33页 |
| ·X射线和Γ射线的性质 | 第17-18页 |
| ·射线与物质的相互作用 | 第18-22页 |
| ·光电效应 | 第18-19页 |
| ·康普顿效应 | 第19页 |
| ·电子对效应 | 第19-20页 |
| ·瑞利散射 | 第20-21页 |
| ·各种相互作用发生的相对几率 | 第21-22页 |
| ·射线强度衰减规律 | 第22-25页 |
| ·窄束、单色射线的强度衰减规律 | 第22-23页 |
| ·宽束、多色射线的强度衰减规律 | 第23-25页 |
| ·射线照相胶片 | 第25-31页 |
| ·射线照相胶片的构造与特点 | 第25-26页 |
| ·感光原理及潜影的形成 | 第26-27页 |
| ·底片黑度 | 第27页 |
| ·射线胶片的特性 | 第27-31页 |
| ·射线照相清晰度 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第三章 阀门透照技术的研究 | 第33-46页 |
| ·透照工艺条件选择的分析 | 第33-36页 |
| ·射线源和能量选择的分析 | 第33-34页 |
| ·焦距选择的分析 | 第34页 |
| ·曝光量选择的分析 | 第34-35页 |
| ·散射线控制方法选择的分析 | 第35-36页 |
| ·透照方式的优化 | 第36-37页 |
| ·各种透照方式最少拍片次数的推导 | 第37-42页 |
| ·小缺陷通用公式 | 第37-39页 |
| ·小裂纹的可检性的关系表达式 | 第39页 |
| ·各种透照方式的最少拍片次数 | 第39-42页 |
| ·阀门透照焦距与不清晰度关系的研究 | 第42-43页 |
| ·常用阀体的透照方法的优化 | 第43-45页 |
| ·优化区域的确定 | 第43页 |
| ·优化分析 | 第43-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 射线检测系统 | 第46-59页 |
| ·射线产生的特点 | 第46-49页 |
| ·X射线的产生和特点 | 第46-47页 |
| ·γ射线的产生及特点 | 第47-48页 |
| ·Co60和Ir192放射性同位素的特性 | 第48-49页 |
| ·射线检测的设备、器材 | 第49-54页 |
| ·X射线机的基本结构 | 第49-52页 |
| ·γ射线探伤设备的结构 | 第52-54页 |
| ·检测系统的设计 | 第54-58页 |
| ·内透法的检测系统 | 第54-56页 |
| ·外透法的检测系统 | 第56页 |
| ·双壁单影法的检测系统 | 第56页 |
| ·x、γ射线检测设备、仪器及其连接 | 第56-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 射线检测阀体缺陷的案例分析 | 第59-68页 |
| ·射线检测工作流程 | 第59-60页 |
| ·案例设计 | 第60页 |
| ·阀体的准备 | 第60页 |
| ·检测仪器及器材的选用 | 第60页 |
| ·阀门常见缺陷的影像分析及典型图片 | 第60-62页 |
| ·各种透照方法结果对比和分析 | 第62-67页 |
| ·本章小节 | 第67-68页 |
| 第六章 结论与展望 | 第68-70页 |
| ·结论 | 第68页 |
| ·展望 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 附录1:作者在读工程硕士学位期间发表的论文和参考科研项目 | 第73页 |