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ZnO薄膜的MOCVD制备及ZnO/Si发光器件研究

内容提要第1-8页
第1章 绪论第8-26页
   ·ZnO材料的基本性质简介第9-12页
   ·ZnO材料的应用第12-13页
   ·ZnO的本征缺陷、掺杂及研究进展第13-19页
     ·ZnO的本征缺陷第13-14页
     ·ZnO中的非故意掺杂第14-15页
     ·ZnO的n型掺杂第15页
     ·ZnO的p型掺杂第15-19页
   ·ZnO基p-n结二极管及其电致发光的研究进展第19-24页
     ·ZnO基p-n异质结第19-21页
     ·ZnO基p-n同质结第21-24页
   ·本论文的主要研究内容第24-26页
第2章 ZnO薄膜的生长设备及样品的表征技术第26-46页
   ·金属有机化学气相沉积(MOCVD)技术简介第26-29页
     ·MOCVD技术第26-27页
     ·MOCVD法制备薄膜的生长步骤第27-28页
     ·MOCVD法制备薄膜的生长机制第28-29页
   ·MOCVD法生长ZnO薄膜第29-36页
     ·MOCVD法生长ZnO薄膜的源材料选择第29-30页
     ·DEZn和O_2为源制备ZnO薄膜的生长机理第30-31页
     ·ZnO薄膜生长专用MOCVD系统第31-36页
   ·ZnO薄膜的表征技术第36-46页
     ·晶体质量表征第37-38页
     ·形貌表征第38-40页
     ·电学特性表征第40-41页
     ·光学特性表征第41-44页
     ·元素组分表征第44-46页
第3章 ZnO薄膜的生长、优化及特性研究第46-62页
   ·MOCVD法制备ZnO薄膜第46-49页
     ·衬底的选择与清洗第46-48页
     ·薄膜的制备过程第48-49页
   ·薄膜的生长过程与生长模式第49-51页
     ·薄膜的生长过程第49页
     ·薄膜的生长模式第49-51页
   ·生长条件对ZnO薄膜质量的影响第51-58页
     ·正交试验设计法简要介绍第51-52页
     ·正交试验设计法辅助优化MOCVD制备ZnO薄膜的生长条件第52-58页
   ·缓冲层生长温度对ZnO薄膜质量的影响第58-61页
   ·本章小结第61-62页
第4章 光辅助MOCVD法制备ZnO薄膜第62-76页
   ·光辅助技术的优点第62-63页
   ·光辅助MOCVD法制备ZnO薄膜的研究进展第63-64页
   ·光辅助对ZnO薄膜质量的影响第64-74页
   ·本章小结第74-76页
第5章 ZnO薄膜的p型掺杂及其特性研究第76-102页
   ·研究背景第76-78页
   ·ZnO薄膜的氮掺杂特性研究第78-90页
     ·NH_3掺杂制备ZnO薄膜的研究进展第78-79页
     ·NH_3流量对ZnO薄膜性质的影响第79-83页
     ·光辅助对NH_3掺杂ZnO薄膜性质的影响第83-90页
   ·ZnO薄膜的磷掺杂特性研究第90-100页
     ·用热扩散方法在InP衬底上制备ZnO:P薄膜的可行性分析第90-92页
     ·热扩散法制备ZnO:P薄膜及其特性研究第92-100页
   ·本章小结第100-102页
第6章 n-ZnO/p-Si异质结器件特性研究第102-118页
   ·n-ZnO/p-Si异质结器件的制备及薄膜特性分析第102-105页
     ·n-ZnO/p-Si异质结器件的制备第102-103页
     ·ZnO薄膜的特性研究第103-105页
   ·n-ZnO/p-Si异质结器件的特性分析第105-109页
     ·n-ZnO/p-Si异质结电学特性研究第105-107页
     ·n-ZnO/p-Si异质结能带第107-109页
   ·n-ZnO/p-Si异质结器件的电致发光第109-116页
     ·n-ZnO/p-Si异质结的可见电致发光第109-111页
     ·n-ZnO/p-Si异质结的红外电致发光第111-116页
   ·本章小结第116-118页
结论第118-121页
本论文的创新点第121-122页
参考文献第122-138页
攻读博士学位期间发表的学术论文第138-142页
致谢第142-143页
中文摘要第143-146页
Abstract第146-148页

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