基于似然率检验的过程控制方法研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·研究背景与现状 | 第7-10页 |
| ·研究目的和意义 | 第10页 |
| ·论文研究内容和技术路线 | 第10-12页 |
| ·本章小结 | 第12-13页 |
| 第二章 似然率和统计过程控制的基本原理 | 第13-25页 |
| ·似然率的基本原理 | 第13-14页 |
| ·统计过程控制基本原理 | 第14-22页 |
| ·产品质量的统计特征 | 第14-16页 |
| ·控制图原理 | 第16-18页 |
| ·常规控制图 | 第18-21页 |
| ·控制限的确定 | 第21-22页 |
| ·平均运行长度ARL | 第22-23页 |
| ·未知参数的变点方程 | 第23-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 基于似然率检验的过程控制方法 | 第25-29页 |
| ·均值方差联合控制图 | 第25-27页 |
| ·基于似然率原理的检验统计量 | 第25-26页 |
| ·确定变异来源 | 第26-27页 |
| ·似然率检验统计量的控制限确定 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 似然率检验方法的性能分析 | 第29-32页 |
| ·似然率检验方法的ARL分析 | 第29-30页 |
| ·确定变异来源的准确度分析 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第五章 似然率检验方法横向对比研究 | 第32-43页 |
| ·与CUSUM的对比研究 | 第32-37页 |
| ·均值偏移对比研究 | 第33-36页 |
| ·方差偏移对比 | 第36-37页 |
| ·与EWMA的对比研究 | 第37-41页 |
| ·均值偏移对比研究 | 第37-40页 |
| ·方差偏移对比研究 | 第40-41页 |
| ·横向对比研究总结 | 第41-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第六章 案例分析 | 第43-46页 |
| 第七章 结束语 | 第46-48页 |
| ·内容总结 | 第46-47页 |
| ·研究展望 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-50页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第50-51页 |
| 附录 | 第51-56页 |
| 致谢 | 第56页 |
