基于PXI总线的检测系统研制
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-19页 |
| ·课题来源及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
| ·国内外研究现状及分析 | 第10-17页 |
| ·PXI总线检测系统概述 | 第10-12页 |
| ·PXI总线技术现状分析 | 第12-17页 |
| ·本文的研究内容与结构 | 第17-19页 |
| 第2章 设计方案 | 第19-37页 |
| ·需求分析 | 第19-22页 |
| ·测试设备主要功能 | 第19页 |
| ·设计思路 | 第19-20页 |
| ·关键技术指标 | 第20-22页 |
| ·总体设计方案 | 第22-28页 |
| ·PXI总线检测系统体系结构 | 第22-23页 |
| ·仪器模块选择 | 第23-27页 |
| ·系统软件环境及驱动 | 第27-28页 |
| ·硬件方案设计 | 第28-35页 |
| ·32 通道扫描A/D模块 | 第29-30页 |
| ·8 通道并行A/D模块 | 第30-31页 |
| ·继电器开关模块 | 第31页 |
| ·双向数字I/O模块 | 第31-32页 |
| ·RS-422&RS-485 模块 | 第32-34页 |
| ·D/A模块 | 第34-35页 |
| ·软件设计方案 | 第35-36页 |
| ·软件开发平台 | 第35-36页 |
| ·软件设计内容及方案 | 第36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第3章 PXI总线接口设计 | 第37-46页 |
| ·基于IP核的PXI接口设计技术 | 第37-40页 |
| ·FPGA及IP核的介绍 | 第37-38页 |
| ·基于IP核的PXI接口设计 | 第38-40页 |
| ·基于PC19054 的接口电路设计 | 第40-42页 |
| ·PXI模块仪器热插拔技术 | 第42-46页 |
| ·热插拔规范 | 第42-43页 |
| ·热插拔的硬件电路设计 | 第43-45页 |
| ·热插拔的软件设计 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46页 |
| 第4章 PXI总线数据采集模块设计 | 第46-63页 |
| ·8 通道并行A/D模块设计 | 第47-55页 |
| ·工作原理及结构 | 第47-48页 |
| ·硬件电路设计 | 第48-51页 |
| ·基于FPGA的并行A/D固件设计 | 第51-53页 |
| ·数据存储电路设计 | 第53-55页 |
| ·32 通道扫描A/D模块设计 | 第55-63页 |
| ·工作原理及结构 | 第55-56页 |
| ·硬件电路设计 | 第56-61页 |
| ·基于FPGA的扫描A/D固件设计 | 第61-63页 |
| ·本章小结 | 第63页 |
| 第5章 调试 | 第63-84页 |
| ·调试平台及调试内容 | 第64-67页 |
| ·调试目标和原则 | 第64页 |
| ·调试平台 | 第64-66页 |
| ·调试内容及步骤 | 第66-67页 |
| ·调试过程 | 第67-72页 |
| ·PXI接口和热插拔功能调试 | 第68-69页 |
| ·8 通道并行A/D采集模块 | 第69页 |
| ·32 通道扫描A/D采集模块 | 第69-70页 |
| ·其它自研模块调试过程 | 第70-72页 |
| ·A/D模块的校正 | 第72-77页 |
| ·仪器校正方法 | 第73-74页 |
| ·A/D模块校正设计方案 | 第74-76页 |
| ·校正结果 | 第76-77页 |
| ·调试结果 | 第77-83页 |
| ·调试过程的代表性问题 | 第77-80页 |
| ·功能模块调试结果 | 第80-83页 |
| ·本章小结 | 第83-84页 |
| 结论 | 第84-85页 |
| 参考文献 | 第85-88页 |
| 附录1 系统整体实物图 | 第88-89页 |
| 附录2 并行A/D及扫描A/D模块 | 第89-90页 |
| 附录3 8 通道D/A模块测试记录 | 第90-91页 |
| 附录4 8 通道并行A/D模块测试记录 | 第91-92页 |
| 附录5 32 通道扫描A/D模块测试记录 | 第92-93页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第93-95页 |
| 致谢 | 第95页 |
