| 致谢 | 第6-7页 |
| 摘要 | 第7-8页 |
| Abstract | 第8-9页 |
| 第1章 绪论 | 第12-23页 |
| 1.1 研究背景 | 第12-16页 |
| 1.1.1 GaN功率器件的特性及应用 | 第12-13页 |
| 1.1.2 GaN功率器件的结构与工艺 | 第13-14页 |
| 1.1.3 GaN功率器件全球产业发展现状 | 第14-16页 |
| 1.2 GAN器件的动态电阻退化现象 | 第16-21页 |
| 1.2.1 动态电阻退化机制 | 第17-18页 |
| 1.2.2 动态电阻抑制策略 | 第18-19页 |
| 1.2.3 动态电阻测试的研究现状 | 第19-21页 |
| 1.3 本文的主要研究内容 | 第21-23页 |
| 第2章 动态电阻测试的原理、方法及设计 | 第23-47页 |
| 2.1 电压、电流测量方案 | 第23-32页 |
| 2.1.1 导通电压测量方案 | 第23-29页 |
| 2.1.2 导通电流测量方案 | 第29-31页 |
| 2.1.3 电压、电流延迟校准 | 第31-32页 |
| 2.2 测试电路原理 | 第32-34页 |
| 2.2.1 硬开关测试电路原理 | 第32-33页 |
| 2.2.2 软开关测试电路原理 | 第33-34页 |
| 2.3 测试方法 | 第34-37页 |
| 2.3.1 双脉冲测试方法 | 第34-35页 |
| 2.3.2 多脉冲测试方法 | 第35-37页 |
| 2.4 硬件电路设计 | 第37-46页 |
| 2.4.1 被测器件选型 | 第37-40页 |
| 2.4.2 驱动电路设计 | 第40-43页 |
| 2.4.3 续流电感设计 | 第43页 |
| 2.4.4 PCB设计及测试板样机 | 第43-46页 |
| 2.5 本章小结 | 第46-47页 |
| 第3章 600/650V商用GAN器件动态电阻测试实验 | 第47-58页 |
| 3.1 测试设备及连接 | 第47-48页 |
| 3.2 动态电阻测试实验及结果 | 第48-57页 |
| 3.2.1 双脉冲测试实验及结果 | 第49-52页 |
| 3.2.2 多脉冲测试实验及结果 | 第52-57页 |
| 3.3 本章小结 | 第57-58页 |
| 第4章 软、硬开通条件下的动态电阻影响机制与仿真验证 | 第58-69页 |
| 4.1 软、硬开通影响动态电阻的机理分析 | 第58-61页 |
| 4.1.1 软、硬开通条件下的负载动态轨迹分析 | 第58-59页 |
| 4.1.2 沟道热电子效应在软、硬开通条件下的影响 | 第59-60页 |
| 4.1.3 空穴注入效应在软、硬开通条件下的影响 | 第60-61页 |
| 4.2 空穴注入效应二维仿真验证 | 第61-68页 |
| 4.2.1 Silvaco-Atlas仿真软件介绍 | 第61-63页 |
| 4.2.2 仿真模型建立 | 第63-66页 |
| 4.2.3 仿真模型求解 | 第66-68页 |
| 4.3 本章小结 | 第68-69页 |
| 第5章 总结与展望 | 第69-72页 |
| 参考文献 | 第72-77页 |
| 作者简历 | 第77-78页 |
| 硕士期间发表和录用的论文 | 第78页 |
