| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-23页 |
| 1.1 课题背景及意义 | 第11-13页 |
| 1.2 子空间辨识原理和算法 | 第13-15页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第15-21页 |
| 1.3.1 基于子空间辨识方法的工业过程建模研究现状 | 第15-17页 |
| 1.3.2 子空间辨识在工业过程故障检测研究现状 | 第17-21页 |
| 1.4 本文主要工作和结构安排 | 第21-23页 |
| 第2章 子空间辨识的基础知识 | 第23-35页 |
| 2.1 引言 | 第23-24页 |
| 2.2 子空间辨识基本原理 | 第24-27页 |
| 2.2.1 正交投影和斜向投影 | 第24-25页 |
| 2.2.2 条件正交 | 第25-27页 |
| 2.3 子空间辨识基本步骤 | 第27-29页 |
| 2.3.1 广义能观性矩阵/状态序列估计 | 第27-28页 |
| 2.3.2 系统矩阵的两种计算方法 | 第28-29页 |
| 2.4 规范变量分析法 | 第29-32页 |
| 2.5 基于规范变量分析的无输入状态空间建模 | 第32-34页 |
| 2.6 本章小结 | 第34-35页 |
| 第3章 基于正交分解的递推子空间辨识的状态空间模型 | 第35-43页 |
| 3.1 引言 | 第35页 |
| 3.2 系统模型的正交分解 | 第35-38页 |
| 3.2.1 系统描述 | 第35-36页 |
| 3.2.2 正交分解过程 | 第36-37页 |
| 3.2.3 投影向量的获取 | 第37-38页 |
| 3.2.4 投影向量的递推运算 | 第38页 |
| 3.3 递推子空间辨识算法 | 第38-41页 |
| 3.3.1 投影向量Hankel矩阵的构造与更新 | 第38-39页 |
| 3.3.2 广义能观测矩阵的递推估计 | 第39-40页 |
| 3.3.3 确定系统参数矩阵 | 第40-41页 |
| 3.4 仿真研究 | 第41-42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第4章 基于滑窗QR分解的递推子空间辨识 | 第43-57页 |
| 4.1 引言 | 第43页 |
| 4.2 基于规范变量分析子空间辨识的状态空间建模 | 第43-46页 |
| 4.3 基于递推子空间滑动窗口QR分解算法 | 第46-51页 |
| 4.4 仿真研究 | 第51-55页 |
| 4.4.1 过程描述 | 第51-52页 |
| 4.4.2 仿真结果和分析 | 第52-55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-57页 |
| 第5章 基于递推规范变量分析的时变过程故障检测 | 第57-69页 |
| 5.1 引言 | 第57页 |
| 5.2 故障检测统计量及其控制限 | 第57-59页 |
| 5.3 在线过程故障检测和识别步骤 | 第59-60页 |
| 5.4 仿真分析 | 第60-67页 |
| 5.4.1 过程描述 | 第60-63页 |
| 5.4.2 仿真结果与分析 | 第63-67页 |
| 5.5 本章小结 | 第67-69页 |
| 第6章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-77页 |
| 致谢 | 第77页 |