| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-22页 |
| 1.1 本文研究背景及意义 | 第16-18页 |
| 1.2 国内外研究现状和发展动态 | 第18-20页 |
| 1.2.1 电磁辐射等效模型分析历程 | 第18-19页 |
| 1.2.2 电磁兼容仿真的现状 | 第19-20页 |
| 1.3 本文主要内容及结构安排 | 第20-22页 |
| 第二章 PCB电路设计的EMC特性 | 第22-28页 |
| 2.1 PCB电路中元器件的高频特性 | 第22-23页 |
| 2.2 PCB产生电磁辐射的机理 | 第23-24页 |
| 2.3 PCB时钟电路布局及布线 | 第24-25页 |
| 2.4 电磁辐射等效模型 | 第25-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 电场测量电路电磁辐射建模与仿真 | 第28-52页 |
| 3.1 测量电路电磁辐射模型建立 | 第28-30页 |
| 3.2 开关电源电路电磁辐射仿真 | 第30-37页 |
| 3.2.1 基波电磁辐射特性 | 第31-33页 |
| 3.2.2 高次谐波的电磁辐射特性 | 第33-35页 |
| 3.2.3 典型频率的电磁辐射特性 | 第35-37页 |
| 3.3 采集电路晶体电路电磁辐射仿真 | 第37-44页 |
| 3.3.1 基波电磁辐射特性 | 第38-40页 |
| 3.3.2 高次谐波的电磁辐射特性 | 第40-41页 |
| 3.3.3 典型频率的电磁辐射特性 | 第41-44页 |
| 3.4 CPU晶体电路电磁辐射仿真 | 第44-51页 |
| 3.4.1 基波电磁辐射特性 | 第45-46页 |
| 3.4.2 高次谐波的电磁辐射特性 | 第46-48页 |
| 3.4.3 典型频率的电磁辐射特性 | 第48-51页 |
| 3.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 第四章 电路板的壳体结构的屏蔽特性分析 | 第52-68页 |
| 4.1 屏蔽壳体的模型建立 | 第52-54页 |
| 4.1.1 屏蔽的基本参量 | 第52-53页 |
| 4.1.2 电路板屏蔽壳体的模型建立 | 第53-54页 |
| 4.2 开关电源模块辐射情况下屏蔽壳体屏蔽特性分析 | 第54-57页 |
| 4.2.1 基波情况下屏蔽壳体屏蔽特性 | 第54-56页 |
| 4.2.2 高次谐波基波情况下屏蔽壳体屏蔽特性 | 第56-57页 |
| 4.3 采集电路晶体模块辐射情况下屏蔽壳体屏蔽特性分析 | 第57-61页 |
| 4.3.1 基波情况下屏蔽壳体屏蔽特性 | 第57-60页 |
| 4.3.2 高次谐波基波情况下屏蔽壳体屏蔽特性 | 第60-61页 |
| 4.4 CPU电路晶体模块辐射情况下屏蔽壳体屏蔽特性分析 | 第61-64页 |
| 4.4.1 基波情况下屏蔽壳体屏蔽特性 | 第61-63页 |
| 4.4.2 高次谐波基波情况下屏蔽壳体屏蔽特性 | 第63-64页 |
| 4.5 引线的场辐射仿真 | 第64-67页 |
| 4.6 本章小结 | 第67-68页 |
| 第五章 电磁辐射与屏蔽处理方法研究 | 第68-76页 |
| 5.1 电磁辐射优化处理方法 | 第68-69页 |
| 5.2 PCB辐射场优化方法分析 | 第69-72页 |
| 5.3 屏蔽壳体结构优化方法分析 | 第72-75页 |
| 5.4 本章小结 | 第75-76页 |
| 第六章 总结与展望 | 第76-78页 |
| 6.1 全文总结 | 第76-77页 |
| 6.2 未来展望 | 第77-78页 |
| 参考文献 | 第78-82页 |
| 致谢 | 第82-84页 |
| 作者简介 | 第84-85页 |
