| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-20页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第16-17页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第17-18页 |
| 1.3 论文主要内容及章节安排 | 第18-20页 |
| 第二章 晶体振荡器简介 | 第20-28页 |
| 2.1 石英晶体的物理特性 | 第20-21页 |
| 2.2 晶体的加工过程和切割方式 | 第21-23页 |
| 2.3 晶体振荡器及其分类 | 第23-25页 |
| 2.4 晶体振荡器的主要性能指标 | 第25-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 老化的谐振参数分析以及实测数据验证 | 第28-52页 |
| 3.1 晶体振荡器的谐振频率 | 第28-30页 |
| 3.1.1 石英晶体的等效电路和谐振参数 | 第28-30页 |
| 3.1.2 影响谐振频率的主要因素 | 第30页 |
| 3.2 晶体的老化分析 | 第30-32页 |
| 3.3 传统的老化补偿模式 | 第32-34页 |
| 3.4 本文老化补偿原理分析 | 第34-50页 |
| 3.4.1 谐振参数变化对相移的影响 | 第34-39页 |
| 3.4.2 晶振及测量点的介绍 | 第39-42页 |
| 3.4.3 高精度频率计数器对频率和相位差的测量 | 第42-46页 |
| 3.4.4 频率—相移拟合曲线的建立 | 第46-47页 |
| 3.4.5 压控电压对输出频率控制曲线的建立 | 第47-50页 |
| 3.5 本章小结 | 第50-52页 |
| 第四章 基于谐振参数的数字化老化补偿系统的设计 | 第52-72页 |
| 4.1 数字化测相的原理分析 | 第52-57页 |
| 4.1.1 ADC的分辨率和量化误差 | 第52-53页 |
| 4.1.2 采样值反映被测信号相位情况 | 第53-54页 |
| 4.1.3 时钟信号与被采样信号同频理论分析 | 第54-56页 |
| 4.1.4 模糊区边沿及边沿效应对采样灵敏度的影响 | 第56-57页 |
| 4.2 系统的整体设计方案及软件模块设计 | 第57-60页 |
| 4.2.1 方案的整体设计 | 第57-58页 |
| 4.2.2 系统软件模块设计 | 第58-60页 |
| 4.3 系统的硬件设计方案 | 第60-69页 |
| 4.3.1 电源模块 | 第60-62页 |
| 4.3.2 信号放大电路、移相器和整形电路 | 第62-64页 |
| 4.3.3 ADC模块和反馈控制模块 | 第64-66页 |
| 4.3.4 FPGA和MCU模块 | 第66-69页 |
| 4.4 本章小结 | 第69-72页 |
| 第五章 方案实施与数据分析 | 第72-78页 |
| 5.1 中值滤波和采样值变化效果 | 第72-74页 |
| 5.2 采样最大值得测定及延时线长度的选择 | 第74-75页 |
| 5.3 系统总体方案验证 | 第75-77页 |
| 5.4 系统误差分析 | 第77页 |
| 5.5 本章小结 | 第77-78页 |
| 第六章 总结与展望 | 第78-80页 |
| 6.1 全文总结 | 第78页 |
| 6.2 后续工作展望 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
| 致谢 | 第82-84页 |
| 作者简介 | 第84-85页 |