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高压对MoSe2及其异质结的激子和晶格振动行为调控研究

摘要第4-7页
Abstract第7-10页
第一章 绪论第13-45页
    1.1 过渡族金属硫族化合物简介第13-29页
        1.1.1 过渡族金属硫族化合物的结构与制备方法第13-18页
        1.1.2 单层过渡族金属硫族化合物的物理性质第18-23页
        1.1.3 单数层级过渡族金属硫族化合物的应用第23-29页
    1.2 高压物理学第29-35页
        1.2.1 高压物理学简介第29-30页
        1.2.2 金刚石对顶砧装置简介第30-35页
    1.3 论文的选题目的和意义及各部分主要内容第35-37页
    参考文献第37-45页
第二章 样品制备与光谱测量方法第45-53页
    2.1 引言第45页
    2.2 向金刚石对顶砧上转移TMDs的装置及方法第45-48页
        2.2.1 背景技术第45-46页
        2.2.2 装置结构及操作方法第46-48页
    2.3 高压微区荧光光谱测量技术第48-49页
    2.4 高压微区拉曼光谱测量技术第49-51页
    2.5 高压原位同步辐射X射线衍射实验方法第51-52页
    参考文献第52-53页
第三章 压力对单层MoSe_2激子和晶格振动行为的调制第53-73页
    3.1 引言第53-54页
    3.2 单层MoSe_2的制备与表征第54-56页
    3.3 压力对单层MoSe_2激子行为调控研究第56-64页
        3.3.1 实验测量第56-59页
        3.3.2 第一性原理计算第59-64页
    3.4 压力对单层MoSe_2晶格振动行为的调控研究第64-65页
    3.5 基于Si/SiO2衬底的单层MoSe_2激子和晶格振动行为高压调控研究第65-68页
    3.6 本章小结第68页
    参考文献第68-73页
第四章 压力对MoSe_2-WSe2异质结激子和晶格振动行为的调控研究第73-97页
    4.1 引言第73-74页
    4.2 单层MoSe_2-WSe2异质结的制备与表征第74-80页
    4.3 压力对单层MoSe_2-WSe2异质结激子行为的调控第80-85页
        4.3.1 单层MoSe_2和单层WSe2的高压荧光光谱第81-82页
        4.3.2 MoSe_2-WSe2异质结的高压荧光光谱第82-85页
    4.4 MoSe_2-WSe2异质结高压能带结构的第一性原理计算第85-88页
    4.5 压力对MoSe_2-WSe2异质结晶格振动行为的调控研究第88-93页
        4.5.1 单层MoSe_2和单层WSe2的高压拉曼光谱第88-89页
        4.5.2 MoSe_2-WSe2异质结的高压拉曼光谱第89-93页
    4.6 本章小结第93页
    参考文献第93-97页
第五章 压力对双层及体材料MoSe_2激子和晶格振动行为的调制研究第97-107页
    5.1 引言第97页
    5.2 双层MoSe_2的高压拉曼光谱第97-100页
    5.3 双层MoSe_2的高压荧光光谱第100-101页
    5.4 体材料MoSe_2的高压拉曼光谱第101-102页
    5.5 体材料MoSe_2的高压同步辐射XRD谱第102-105页
    5.6 本章小结第105-106页
    参考文献第106-107页
第六章 总结和展望第107-109页
攻读博士期间发表的学术论文第109-110页
致谢第110-111页
作者简历第111页

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