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低能氩离子注入非晶氧化物工艺的模拟计算方法研究

摘要第5-7页
abstract第7-8页
第一章 绪论第11-16页
    1.1 引言第11页
    1.2 钛酸锶的基本性质第11-12页
    1.3 SrTiO_3的缺陷研究第12-13页
    1.4 国内外研究现状及发展趋势第13-14页
    1.5 论文的研究内容及框架第14-16页
第二章 离子注入的计算机模拟理论第16-32页
    2.1 蒙特卡罗方法第16-18页
        2.1.1 蒙特卡罗方法简介第16页
        2.1.2 蒙特卡罗方法的基本思想第16-17页
        2.1.3 蒙特卡罗方法的特点及在离子注入上的应用第17-18页
    2.2 SRIM程序第18-32页
        2.2.1 SRIM程序简介第18-19页
        2.2.2 粒子的阻止与范围第19-30页
            2.2.2.1 电子的停止第19-20页
            2.2.2.2 粒子与自由电子气的相互作用第20-21页
            2.2.2.3 能量离子的有效电荷第21-23页
            2.2.2.4 靶元素的电荷分布第23-26页
            2.2.2.5 离子的核阻止第26-30页
        2.2.3 SRIM的几个基本概念第30-32页
第三章 Ar~+轰击SrTiO_3晶体的原子分布及缺陷研究第32-52页
    3.1 前言第32页
    3.2 SrTiO_3的能量位移阈能第32-34页
    3.3 入射离子对SrTiO_3晶体表面原子及缺陷分布的影响第34-45页
        3.3.1 Ar~+能量对SrTiO_3表面原子分布的影响第34-39页
        3.3.2 Ar~+能量对SrTiO_3表面缺陷分布的影响第39-41页
        3.3.3 入射角度对SrTiO_3表面原子分布的影响第41-43页
        3.3.4 入射角度对SrTiO_3表面缺陷分布的影响第43-45页
    3.4 靶材料密度对SrTiO_3晶体表面原子及缺陷分布的影响第45-51页
        3.4.1 靶材料密度对SrTiO_3晶体表面原子分布的影响第45-49页
        3.4.2 靶材料密度对SrTiO_3晶体表面缺陷分布的影响第49-51页
    3.5 本章小结第51-52页
第四章 刻蚀过程对离子注入及缺陷分布的影响第52-59页
    4.1 前言第52页
    4.2 刻蚀效应第52-53页
    4.3 逐层计算方法第53-55页
    4.4 计算结果讨论第55-57页
    4.5 本章小节第57-59页
第五章 总结与展望第59-61页
    5.1 总结第59页
    5.2 不足与展望第59-61页
致谢第61-62页
参考文献第62-67页
攻读硕士期间的研究成果第67页

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