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基于碳化硅MOSFET变温度参数模型的器件建模与仿真验证

摘要第5-6页
Abstract第6页
第1章 绪论第9-18页
    1.1 课题研究背景及意义第9-12页
    1.2 国内外研究现状第12-16页
        1.2.1 SiC MOSFET器件的发展状况第12-14页
        1.2.2 SiC MOSFET器件模型第14-16页
    1.3 PSpice概述第16-17页
    1.4 本文主要工作第17-18页
第2章 SiC MOSFET建模基础第18-25页
    2.1 SiC MOSFET的结构特点及重要参数第18-21页
        2.1.1 SiC MOSFET的物理结构及外特性第18页
        2.1.2 SiC MOSFET器件的几个重要参数第18-21页
    2.2 CREE公司提供的Spice模型第21-25页
        2.2.1 Spice模型静态特性测试第21-23页
        2.2.2 Spice模型动态特性测试第23-25页
第3章 SiC MOSFET变温度参数模型的静态模型第25-40页
    3.1 基本MOSFET单元M1建模第25-29页
    3.2 导通电阻及内部门极电阻建模第29-32页
    3.3 温控电压源及温控电流源建模第32-34页
    3.4 SiC MOSFET静态特性验证第34-39页
    3.5 本章小结第39-40页
第4章 SiC MOSFET变温度参数模型的动态模型第40-49页
    4.1 体二极管Doby-Diode建模第40-43页
    4.2 门-漏极间电容建模第43-44页
    4.3 门-源极间电容建模第44-45页
    4.4 动态模型验证第45-48页
    4.5 本章小结第48-49页
第5章 总结与展望第49-51页
    5.1 工作总结第49-50页
    5.2 未来工作展望第50-51页
附录A第51-55页
附录B第55-56页
参考文献第56-60页
攻读硕士学位期间的成果第60-61页
致谢第61页

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