高稳定度晶体振荡器特性研究
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| 1.1 研究背景 | 第7-8页 |
| 1.2 应用前景 | 第8页 |
| 1.3 论文的成果及内容安排 | 第8-9页 |
| 1.4 小结 | 第9-11页 |
| 第二章 晶体振荡器的基本原理和特性 | 第11-25页 |
| 2.1 晶体的物理特性 | 第11-16页 |
| 2.1.1 AT 切谐振器 | 第13-15页 |
| 2.1.2 SC 切谐振器 | 第15-16页 |
| 2.2 晶体的电抗特性 | 第16-22页 |
| 2.2.1 晶体的阻抗-频率特性 | 第16-18页 |
| 2.2.2 石英晶体谐振器的频率影响因素 | 第18-19页 |
| 2.2.3 系统误差和测量 | 第19-22页 |
| 2.3 恒温晶体振荡器基本原理 | 第22-23页 |
| 2.4 小结 | 第23-25页 |
| 第三章 晶体振荡器相位噪声的研究和改善 | 第25-39页 |
| 3.1 相位噪声的产生 | 第25页 |
| 3.2 振荡器相位噪声的分析 | 第25-30页 |
| 3.2.1 电噪声 | 第25-26页 |
| 3.2.2 放大器噪声 | 第26-28页 |
| 3.2.3 谐振电路噪声 | 第28-30页 |
| 3.3 低噪声振荡器设计 | 第30-38页 |
| 3.3.1 10MHz 振荡器稳压源设计 | 第30-32页 |
| 3.3.2 10MHz 振荡器电路设计 | 第32-38页 |
| 3.4 小结 | 第38-39页 |
| 第四章 晶体振荡器频率温度特性的研究和改善 | 第39-53页 |
| 4.1 晶体振荡器的频率-温度特性 | 第39-40页 |
| 4.2 晶体振荡器温度补偿 | 第40-47页 |
| 4.2.1 传统温度补偿技术 | 第40-43页 |
| 4.2.2 微机温补晶体振荡器设计 | 第43-46页 |
| 4.2.3 实验结果分析 | 第46-47页 |
| 4.3 恒温晶体振荡器设计 | 第47-52页 |
| 4.3.1 恒温晶体振荡器的硬件设计 | 第47-51页 |
| 4.3.2 实验数据测试及分析 | 第51-52页 |
| 4.4 小结 | 第52-53页 |
| 第五章 晶体振荡器老化特性研究及补偿 | 第53-61页 |
| 5.1 晶体振荡器老化特性的表征 | 第53-55页 |
| 5.2 晶体振荡器的老化特性测试方法 | 第55-57页 |
| 5.3 晶体振荡器的老化补偿方法及实验数据 | 第57-59页 |
| 5.3.1 晶体振荡器的老化补偿方法 | 第57-58页 |
| 5.3.2 晶体振荡器老化补偿实验数据 | 第58-59页 |
| 5.4 小结 | 第59-61页 |
| 第六章 晶体振荡器中的边沿效应 | 第61-65页 |
| 6.1 晶体振荡器中的边沿效应简介 | 第61-62页 |
| 6.2 边沿效应在晶体振荡器中的探索应用 | 第62-64页 |
| 6.3 小结 | 第64-65页 |
| 第七章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 7.1 全文总结 | 第65-66页 |
| 7.2 后续工作展望 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
