| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第9-11页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第11-17页 |
| 1.2.1 寿命预测模型的国内外研究现状 | 第11-12页 |
| 1.2.2 热阻测量的国内外研究现状 | 第12-13页 |
| 1.2.3 IGBT失效的国内外研究现状 | 第13-17页 |
| 1.3 研究内容 | 第17-19页 |
| 第二章 IGBT功率模块失效理论及寿命预测模型分析 | 第19-27页 |
| 2.1 IGBT结构特性分析 | 第19-21页 |
| 2.2 IGBT失效机理分析 | 第21-22页 |
| 2.2.1 失效类型 | 第21页 |
| 2.2.2 热疲劳形式 | 第21-22页 |
| 2.2.3 累积损伤理论 | 第22页 |
| 2.3 IGBT寿命预测模型的研究 | 第22-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 IGBT特性参数测试系统 | 第27-49页 |
| 3.1 热阻的定义及计算方法 | 第27-29页 |
| 3.2 热阻测试系统的设计 | 第29-40页 |
| 3.2.1 IGBT驱动电路设计与搭建 | 第31页 |
| 3.2.2 IGBT驱动电路方案设计 | 第31页 |
| 3.2.3 驱动电路的搭建 | 第31-33页 |
| 3.2.4 温度测试系统的设计 | 第33-35页 |
| 3.2.5 测温系统方案设计 | 第35-38页 |
| 3.2.6 温度数据的显示与存储设计 | 第38-40页 |
| 3.3 饱和压降温度特性测试电路的搭建 | 第40-43页 |
| 3.4 加速老化试验系统的介绍 | 第43-46页 |
| 3.4.1 总体描述 | 第44-45页 |
| 3.4.2 加速老化试验平台 | 第45-46页 |
| 3.5 试验条件与试验结果 | 第46-49页 |
| 3.5.1 加速试验应力的确定 | 第47-48页 |
| 3.5.2 加速寿命试验方案与结果 | 第48-49页 |
| 第四章 基于特性参数的退化预测模型 | 第49-55页 |
| 4.1 时间序列及其分析概述 | 第49页 |
| 4.2 移动平均模型 | 第49-51页 |
| 4.2.1 简单移动平均法 | 第50页 |
| 4.2.2 趋势移动平均法 | 第50-51页 |
| 4.3 指数平滑法 | 第51-53页 |
| 4.3.1 一次指数平滑法 | 第51-52页 |
| 4.3.2 二次指数平滑法 | 第52-53页 |
| 4.4 加权移动平均法 | 第53-55页 |
| 第5章 数据处理与实例应用 | 第55-67页 |
| 5.1 试验数据的获得 | 第55-57页 |
| 5.2 IGBT饱和压降退化规律的研究 | 第57-64页 |
| 5.2.1 基于移动等权平均法的寿命预测 | 第57-59页 |
| 5.2.2 基于指数平滑法的寿命预测 | 第59-62页 |
| 5.2.3 基于加权移动平均法的寿命预测 | 第62-64页 |
| 5.3 IGBT热阻退化规律的研究 | 第64-67页 |
| 5.3.1 热阻的退化分析 | 第64页 |
| 5.3.2 多项式模型理论分析 | 第64-65页 |
| 5.3.3 实例分析 | 第65-67页 |
| 第六章 结论 | 第67-69页 |
| 6.1 总结 | 第67-68页 |
| 6.2 工作展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-75页 |
| 致谢 | 第75-77页 |
| 攻读学位期间所取得的相关科研成果 | 第77页 |