复合绝缘子憎水性评估方法及憎水性对闪络特性影响研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-9页 |
| 1 绪论 | 第9-21页 |
| ·选题背景及意义 | 第9-10页 |
| ·运行复合绝缘子憎水性检测方法 | 第10-14页 |
| ·静态接触角测量法 | 第10-11页 |
| ·表面张力法 | 第11-12页 |
| ·喷水分级法 | 第12-13页 |
| ·基于数字图像处理的憎水等级评判 | 第13-14页 |
| ·其他方法 | 第14页 |
| ·运行中复合绝缘子憎水机理研究 | 第14-16页 |
| ·新投入运行复合绝缘子的憎水机理 | 第14-15页 |
| ·污秽环境中复合绝缘子的憎水性机理研究 | 第15-16页 |
| ·复合绝缘子憎水性影响因素 | 第16-17页 |
| ·复合绝缘子污秽闪络研究 | 第17-18页 |
| ·复合绝缘子的人工污秽试验方法 | 第17-18页 |
| ·复合绝缘子的污闪特性 | 第18页 |
| ·本文主要研究内容 | 第18-21页 |
| 2 基于动态接触角的复合绝缘子憎水性评估方法研究 | 第21-35页 |
| ·理论基础 | 第21-23页 |
| ·复合绝缘子动态接触角测试方法 | 第23-25页 |
| ·测试系统 | 第23页 |
| ·测试样品 | 第23-24页 |
| ·测试方法 | 第24-25页 |
| ·动态接触角评估憎水性试验结果 | 第25-30页 |
| ·静态接触角测试 | 第25-26页 |
| ·动态接触角测试 | 第26-30页 |
| ·表面形貌分析 | 第30-33页 |
| ·SEM 分析条件 | 第30-31页 |
| ·试验结果 | 第31-32页 |
| ·讨论 | 第32-33页 |
| ·小结 | 第33-35页 |
| 3 复合绝缘子憎水性影响因素研究 | 第35-43页 |
| ·温度对复合绝缘子憎水性影响 | 第35-39页 |
| ·试验样品及试验平台 | 第35页 |
| ·静态接触角与温度的关系 | 第35-37页 |
| ·动态接触角与温度的关系 | 第37-39页 |
| ·讨论 | 第39页 |
| ·浸泡时间及PH 值对复合绝缘子憎水性影响 | 第39-41页 |
| ·试验方法 | 第40页 |
| ·试验结果 | 第40-41页 |
| ·小结 | 第41-43页 |
| 4 不同憎水性等级的复合绝缘子污秽闪络试验研究 | 第43-75页 |
| ·概率统计基础 | 第43-45页 |
| ·分布规律检验 | 第43-44页 |
| ·分布参数估计 | 第44-45页 |
| ·试验方案 | 第45-49页 |
| ·试品 | 第45-47页 |
| ·试验装置 | 第47页 |
| ·试品染污及试品污秽程度测量 | 第47-49页 |
| ·闪络试验方案 | 第49页 |
| ·硅橡胶复合绝缘子闪络分布检验 | 第49-52页 |
| ·闪络分布规律检验 | 第49-51页 |
| ·闪络分布参数检验 | 第51-52页 |
| ·污秽程度对复合绝缘子片闪络特性影响 | 第52-61页 |
| ·盐密ESDD 对50%闪络电压影响 | 第53-55页 |
| ·盐密ESDD 对闪络概率影响研究 | 第55-61页 |
| ·憎水性对复合绝缘子闪络特性影响研究 | 第61-69页 |
| ·后退接触角θr 对50%闪络电压的影响 | 第61-65页 |
| ·后退接触角θr 对闪络概率的影响 | 第65-69页 |
| ·复合绝缘子运行可靠性研究 | 第69-74页 |
| ·小结 | 第74-75页 |
| 5 结论与展望 | 第75-77页 |
| ·结论 | 第75-76页 |
| ·后续研究展望 | 第76-77页 |
| 致谢 | 第77-79页 |
| 参考文献 | 第79-85页 |
| 附录 | 第85页 |
| A.作者在攻读硕士学位期间发表的论文目录 | 第85页 |
| B. 作者在攻读硕士学位期间申请的专利 | 第85页 |
| C.作者在攻读硕士学位期间参与的科研项目 | 第85页 |
