EIT/WMT电极优化设计及正问题研究
摘要 | 第1-4页 |
ABSTRACT | 第4-5页 |
目录 | 第5-8页 |
第一章 绪论 | 第8-16页 |
·EIT 成像技术简介 | 第8-12页 |
·EIT 简介 | 第8-9页 |
·EIT 的发展及应用 | 第9-12页 |
·WMT 成像技术简介 | 第12-14页 |
·WMT 简介 | 第12-13页 |
·WMT 的发展与应用 | 第13-14页 |
·本文的研究内容 | 第14页 |
·本文的组织结构 | 第14-16页 |
第二章 EIT/WMT 的原理 | 第16-23页 |
·EIT 的原理 | 第16-19页 |
·EIT 的数学模型 | 第16-17页 |
·EIT 的正问题分析 | 第17-19页 |
·EIT 的逆问题 | 第19页 |
·WMT 的原理 | 第19-20页 |
·有限元仿真软件 COMSOL | 第20页 |
·电学成像的评价指标 | 第20-23页 |
·敏感场的灵敏度和均匀性 | 第20-21页 |
·有效测量数据 | 第21页 |
·边界电压值 | 第21页 |
·分辨力 | 第21页 |
·重建图像的相关程度 | 第21-23页 |
第三章 拓宽 EIT 的测量空间 | 第23-41页 |
·单层电极三维重建与多层电极三维重建 | 第23-28页 |
·单层电极系统的激励与测量 | 第24-25页 |
·多层电极系统的激励与测量 | 第25-26页 |
·三维重建的对比实验 | 第26-28页 |
·双层电极系统的优化 | 第28-30页 |
·双层电极系统的激励 | 第28-29页 |
·双层电极系统的测量 | 第29-30页 |
·不同模式的对比实验 | 第30-39页 |
·敏感场的灵敏度和均匀性 | 第31页 |
·有效测量数据 | 第31页 |
·边界电压值 | 第31-32页 |
·分辨力 | 第32-33页 |
·重建图像的相关程度 | 第33-34页 |
·重建图像 | 第34-39页 |
·小结 | 第39-41页 |
第四章 拓宽 EIT 的测量范围 | 第41-63页 |
·EIT 系统的设计 | 第41-48页 |
·实部与虚部分离 | 第41-44页 |
·实部与虚部分离方法 | 第44-46页 |
·实部与虚部分离意义 | 第46-48页 |
·EIT 激励模式的设计 | 第48-54页 |
·电压/电流激励对图像重建影响 | 第48-50页 |
·激励频率对图像重建影响 | 第50-52页 |
·标定介质对图像重建影响 | 第52-54页 |
·EIT 电极的设计 | 第54-62页 |
·电极位置对图像重建影响 | 第54-56页 |
·电极尺寸对图像重建影响 | 第56-60页 |
·屏蔽层与径向电极对图像重建影响 | 第60-62页 |
·小结 | 第62-63页 |
第五章 WMT 的仿真与优化 | 第63-76页 |
·WMT 系统的仿真 | 第64-71页 |
·交点与间隙实验 | 第66-67页 |
·径向移动实验 | 第67-68页 |
·贯穿与非贯穿实验 | 第68-69页 |
·小尺寸油滴实验 | 第69-70页 |
·大尺寸油滴实验 | 第70-71页 |
·WMT 激励模式的设计 | 第71-72页 |
·WMT 电极的设计 | 第72-74页 |
·同层电极间距的优化 | 第73页 |
·两层电极间距的优化 | 第73-74页 |
·电极半径的优化 | 第74页 |
·小结 | 第74-76页 |
第六章 总结与建议 | 第76-77页 |
参考文献 | 第77-81页 |
发表论文和参加科研情况说明 | 第81-82页 |
致谢 | 第82页 |