| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·研究背景及意义 | 第7-8页 |
| ·软件过程度量的发展与现状 | 第8-9页 |
| ·统计过程控制的发展和现状 | 第9-11页 |
| ·统计过程控制的发展 | 第9-10页 |
| ·应用现状 | 第10-11页 |
| ·SPC 在软件开发过程中的应用意义 | 第11-12页 |
| ·论文的主要研究内容及结构安排 | 第12-13页 |
| ·研究内容 | 第12页 |
| ·论文结构安排 | 第12-13页 |
| 第二章 基于 CMM/CMMI 的软件过程度量技术 | 第13-27页 |
| ·软件过程度量 | 第13-16页 |
| ·软件过程度量基本概念 | 第13页 |
| ·软件过程的度量过程 | 第13-15页 |
| ·软件过程度量内容 | 第15-16页 |
| ·能力成熟度模型 CMM | 第16-20页 |
| ·CMM 的 5 个成熟度等级 | 第16-18页 |
| ·CMM 的关键过程域 | 第18页 |
| ·过程稳定性与过程能力基线 | 第18-20页 |
| ·能力成熟度集成模型 CMMI | 第20-23页 |
| ·CMMI 的发展历程 | 第20-21页 |
| ·CMMI 的过程域 | 第21页 |
| ·CMMI 的两种表达方式 | 第21-23页 |
| ·CMM/CMMI 的局限 | 第23-24页 |
| ·GQM 建模方法 | 第24-26页 |
| ·GQM | 第24-25页 |
| ·GQ(I)M | 第25-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 统计过程控制技术 | 第27-43页 |
| ·SPC 理论基础 | 第27-31页 |
| ·质量波动 | 第27-28页 |
| ·质量数据 | 第28页 |
| ·正态分布、二项分布和泊松分布 | 第28-30页 |
| ·基本统计理论 | 第30-31页 |
| ·SPC 控制图 | 第31-42页 |
| ·控制图原理 | 第31-32页 |
| ·两类错误 | 第32-33页 |
| ·使用控制图的两个阶段 | 第33-34页 |
| ·判断控制图异常的准则 | 第34-36页 |
| ·控制图分类 | 第36-40页 |
| ·过程能力分析 | 第40-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 SPC 在软件过程度量中的应用研究 | 第43-67页 |
| ·SPC 在软件过程度量中的步骤 | 第43页 |
| ·SPC 在软件过程中的度量指标和目的 | 第43-44页 |
| ·SPC 传统控制图在软件过程度量中的应用实例分析 | 第44-59页 |
| ·某软件公司开发软件过程稳定性判定 | 第44-46页 |
| ·某软件企业程序代码测试的稳定性研究 | 第46-49页 |
| ·软件过程进度偏差稳定性分析 | 第49-51页 |
| ·C 图在软件过程缺陷数度量中的应用 | 第51-52页 |
| ·不同规模模块缺陷数的度量 | 第52-56页 |
| ·某软件企业程序代码评审中不合格品率的监控度量 | 第56-57页 |
| ·单点值和中值移动值域控制图对 XmR 图的补充 | 第57-59页 |
| ·SPC 在软件过程度量应用中的方法改进 | 第59-64页 |
| ·CUSUM 控制图的应用及与传统控制图的比较 | 第59-63页 |
| ·EWMA 的应用及与传统控制图的比较 | 第63-64页 |
| ·本章小结 | 第64-67页 |
| 第五章 总结与展望 | 第67-69页 |
| ·总结 | 第67页 |
| ·未来研究工作展望 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 附录 | 第73-77页 |
| 攻读硕士学位期间主要研究成果 | 第77-78页 |