摘要 | 第1-3页 |
Abstract | 第3-6页 |
第一章 绪论 | 第6-14页 |
·引言 | 第6页 |
·课题的研究背景与意义 | 第6-7页 |
·国内外研究现状 | 第7-12页 |
·叶片测量方法的研究现状 | 第7-9页 |
·叶片三坐标测量路径规划的研究现状 | 第9页 |
·叶片三坐标测量数据分析的研究现状 | 第9-10页 |
·UG 二次开发的研究现状 | 第10-12页 |
·课题的主要研究内容 | 第12-14页 |
第二章 系统设计基础技术及无CAD 模型叶片测量路径规划 | 第14-26页 |
·CMM 测量技术 | 第14-18页 |
·三坐标测量机床简介 | 第14-16页 |
·三坐标测量机床的工作原理 | 第16页 |
·DIMS 语言简介 | 第16-18页 |
·CMM 与CAQ 的集成 | 第18页 |
·UG 二次开发技术 | 第18-19页 |
·UG 软件简介 | 第18-19页 |
·UG 二次开发工具 | 第19页 |
·无CAD 模型叶片测量路径规划 | 第19-24页 |
·测量方法的选择 | 第20页 |
·圆弧切线法的原理 | 第20-22页 |
·圆弧切线法的程序实现 | 第22-24页 |
·本章小结 | 第24-26页 |
第三章 叶片型面CMM 自动测量路径规划 | 第26-36页 |
·叶片型面测量型线的获取 | 第26-27页 |
·CMM 测量点的获取 | 第27-31页 |
·测量点的信息和分布方法 | 第27页 |
·曲率差值淘汰算法获取测量点 | 第27-30页 |
·弦高公差算法获取测量点 | 第30-31页 |
·测量点信息的获取 | 第31页 |
·CMM 测量路径的自动生成 | 第31-33页 |
·CMM 测量坐标系的建立及调整 | 第33-35页 |
·坐标系建立的原则 | 第33页 |
·测量坐标系的建立 | 第33页 |
·测量坐标系的调整 | 第33-35页 |
·本章小结 | 第35-36页 |
第四章 叶片型面测量数据的处理与分析 | 第36-48页 |
·异常点的处理 | 第36-38页 |
·杂点的获得与处理方法 | 第36页 |
·弦高差法剔除杂点 | 第36-37页 |
·曲率符号变化法剔除杂点 | 第37-38页 |
·前后缘与最大厚度圆参数提取 | 第38-44页 |
·前后缘的半径及圆心的求取 | 第38-42页 |
·最大厚度圆的直径及圆心的求取 | 第42-44页 |
·坐标配准 | 第44-46页 |
·弦线与轮廓度 | 第46-47页 |
·最大弦长与弦倾角的求取 | 第46页 |
·型线轮廓度的求取 | 第46-47页 |
·输出检测报告 | 第47页 |
·本章小结 | 第47-48页 |
第五章 叶片型面检测和分析系统的开发与应用实例 | 第48-60页 |
·基于UG 的Visual C++开发环境的设置 | 第48-50页 |
·UG/Open API 应用程序的运行环境 | 第48-49页 |
·UG/Open API 应用程序的创建与环境设置 | 第49-50页 |
·系统的应用实例 | 第50-59页 |
·系统与 UG 软件平台的无缝集成 | 第50页 |
·CMM 测量路径规划系统的应用 | 第50-52页 |
·检测和分析系统的应用 | 第52-59页 |
·本章小结 | 第59-60页 |
第六章 总结与展望 | 第60-62页 |
·回顾与总结 | 第60-61页 |
·主要完成的工作 | 第60-61页 |
·主要创新点 | 第61页 |
·存在的问题 | 第61页 |
·工作展望 | 第61-62页 |
致谢 | 第62-64页 |
参考文献 | 第64-68页 |
附录:作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第68-69页 |