| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-7页 |
| ACKNOWLEDGMENTS | 第7-14页 |
| 1. Itroduction | 第14-28页 |
| ·A brief introduction to the magnetic recording | 第14-20页 |
| ·Anisotropic magnetoresistance | 第15-16页 |
| ·Colossal magnetoresistance | 第16-17页 |
| ·Giant magnetoresistance head | 第17-20页 |
| ·Tunneling magnetoresistance head | 第20页 |
| ·TMR introduction | 第20-21页 |
| ·TMR principle | 第21-25页 |
| ·Tunneling effect | 第21-23页 |
| ·Current theory | 第23-25页 |
| ·Research motivation and significance | 第25-26页 |
| ·Overview of thesis | 第26-28页 |
| 2. Experiment details | 第28-39页 |
| ·Sample preparation | 第28-32页 |
| ·Magnetron sputtering | 第29-30页 |
| ·Plasma oxidation | 第30页 |
| ·Sample information | 第30-32页 |
| ·Resistance measurement | 第32-33页 |
| ·Test methods | 第33-38页 |
| ·Lifetime test | 第33-35页 |
| ·Temperature dependent test | 第35-36页 |
| ·Bias dependent test | 第36-37页 |
| ·Polarity dependent test | 第37-38页 |
| ·Conclusion | 第38-39页 |
| 3. Lifetime test and analysis | 第39-61页 |
| ·Introduction | 第39页 |
| ·Tunneling magnetoresistive failure characterizes | 第39-43页 |
| ·Breakdown theory | 第43-46页 |
| ·Breakdown voltage analysis | 第46-49页 |
| ·Lifetime evaluation | 第49-60页 |
| ·Lifetime evaluation models | 第50-56页 |
| ·Lifetime evaluation of MgO and AlOx | 第56-60页 |
| ·Conclusion | 第60-61页 |
| 4. Nondestructive tese and analysis | 第61-75页 |
| ·Introduction | 第61页 |
| ·Temperature dependent | 第61-67页 |
| ·Temperature dependent theories | 第62-63页 |
| ·Temperature dependent test | 第63-67页 |
| ·Bias dependent | 第67-69页 |
| ·Polarity dependent | 第69-74页 |
| ·Conclusion | 第74-75页 |
| 5. Conlusion and recommendation | 第75-77页 |
| ·Conclusion | 第75-76页 |
| ·Recommendations for future work | 第76-77页 |
| References | 第77-82页 |
