抗软错误TCAM设计
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第1章 绪论 | 第8-18页 |
| ·课题背景及意义 | 第8-9页 |
| ·CAM简介 | 第9-12页 |
| ·CAM的结构和工作原理 | 第9-10页 |
| ·CAM单元 | 第10-12页 |
| ·软错误的产生机理 | 第12-14页 |
| ·集成电路存储器加固技术国内外研究现状 | 第14-16页 |
| ·论文研究内容及结构 | 第16-18页 |
| 第2章 抗软错误TCAM设计 | 第18-47页 |
| ·抗软错误TCAM的结构和工作原理 | 第18-20页 |
| ·TCAM电路设计 | 第20-33页 |
| ·TCAM单元电路设计 | 第20-23页 |
| ·行地址译码器设计 | 第23-25页 |
| ·匹配线敏感放大器设计 | 第25-26页 |
| ·优先级编码器设计 | 第26-30页 |
| ·TCAM电路仿真与分析 | 第30-33页 |
| ·嵌入式DRAM电路设计 | 第33-42页 |
| ·eDRAM存储单元阵列设计 | 第34-35页 |
| ·字线升压电路设计 | 第35-36页 |
| ·灵敏放大器电路设计 | 第36-40页 |
| ·eDRAM电路仿真与分析 | 第40-42页 |
| ·ECC电路设计 | 第42-46页 |
| ·汉明码的校验原理 | 第42-44页 |
| ·ECC电路的设计与仿真 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第3章 抗软错误TCAM电路的仿真及分析 | 第47-62页 |
| ·抗软错误TCAM电路的无故障仿真及分析 | 第47-52页 |
| ·抗软错误TCAM电路的故障仿真及分析 | 第52-61页 |
| ·α粒子辐射模型 | 第52-54页 |
| ·确定故障仿真及分析 | 第54-59页 |
| ·随机故障仿真及分析 | 第59-61页 |
| ·本章小结 | 第61-62页 |
| 第4章 主要电路模块的版图设计与验证 | 第62-67页 |
| ·提高电路可靠性的版图设计原则 | 第62页 |
| ·各个主要电路模块版图 | 第62-66页 |
| ·TCAM电路版图 | 第63-64页 |
| ·ECC电路版图 | 第64-65页 |
| ·eDRAM电路版图 | 第65-66页 |
| ·版图验证 | 第66页 |
| ·本章小结 | 第66-67页 |
| 结论 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第72-74页 |
| 致谢 | 第74页 |