| 中文摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-6页 |
| 1 绪论 | 第6-17页 |
| ·NEA光电阴极的发现及发展概况 | 第6-14页 |
| ·光电阴极发展的回顾和NEA光电阴极的发现 | 第6-7页 |
| ·NEA光电阴极的发展简介 | 第7-11页 |
| ·NEA光电阴极的参量描述 | 第11-13页 |
| ·NEA光电阴极性能参量的测量 | 第13-14页 |
| ·NEA光电阴极的应用 | 第14页 |
| ·NEA光电阴极国内外研究现状 | 第14-15页 |
| ·本论文的主要工作 | 第15-17页 |
| 2 NEA光电阴极的光谱响应及测试原理研究 | 第17-25页 |
| ·NEA光电阴极的光谱响应与量子产额 | 第17-21页 |
| ·光谱响应的定义 | 第17-18页 |
| ·NEA光电阴极量子产额表达式 | 第18-20页 |
| ·影响量子产额的因素 | 第20-21页 |
| ·光谱响应的测试原理 | 第21-25页 |
| ·光谱响应测试的基本原理 | 第21-22页 |
| ·用光谱响应计算积分灵敏度 | 第22-25页 |
| 3 光谱响应测试仪的研制 | 第25-51页 |
| ·光谱响应测试仪国内外的研制状况 | 第26-27页 |
| ·光谱响应测试仪国外的研究状况 | 第26页 |
| ·光谱响应测试仪国内的研究状况 | 第26-27页 |
| ·光谱响应测试仪的硬件结构 | 第27-35页 |
| ·光谱响应测试仪的软件编制 | 第35-39页 |
| ·系统安装与调试 | 第39-47页 |
| ·光源的标定与调节 | 第39-41页 |
| ·PC机与光栅单色仪微机控制器之间的通信 | 第41-47页 |
| ·光谱响应测试中的抗干扰技术研究 | 第47-48页 |
| ·系统误差分析及测试结果 | 第48-51页 |
| 4 XPS表面分析技术研究及其应用 | 第51-63页 |
| ·X射线光电子能谱 | 第51-53页 |
| ·X射线光电子能谱的发展状况 | 第51页 |
| ·X射线光电子能谱的工作原理 | 第51-52页 |
| ·XPS光电子能谱仪的结构 | 第52-53页 |
| ·XPS分析技术综述 | 第53-55页 |
| ·XPS定性分析技术 | 第53页 |
| ·XPS定量分析技术 | 第53-54页 |
| ·利用化学位移效应研究元素的表面化学状态 | 第54-55页 |
| ·变角XPS分析技术研究 | 第55-62页 |
| ·电子非弹性散射平均自由程的概念 | 第55-56页 |
| ·XPS变角分析的基本原理 | 第56-57页 |
| ·多层结构的变角XPS定量分析技术原理及其分析方法 | 第57-58页 |
| ·基于小角度的变角XPS定量分析程序编制 | 第58-62页 |
| ·XPS表面分析技术在光电阴极研究中的应用 | 第62-63页 |
| 5 NEA光电阴极激活工艺及性能评估技术研究 | 第63-77页 |
| ·NEA光电阴极激活评估系统介绍 | 第63-66页 |
| ·NEA光电阴极激活工艺研究 | 第66-71页 |
| ·样品的清洁 | 第67-69页 |
| ·样品的激活 | 第69页 |
| ·光谱响应在线测试技术在样品激活过程中的应用 | 第69-71页 |
| ·三代管的均匀性和稳定性测试分析研究 | 第71-77页 |
| ·三代管的均匀性研究 | 第72-73页 |
| ·三代管在光照下的稳定性研究 | 第73-77页 |
| 6 结束语 | 第77-79页 |
| ·本论文的工作总结 | 第77-78页 |
| ·有待进一步进行的工作 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-83页 |
| 攻读硕士期间发表或被录用的论文 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84页 |