| 摘要 | 第2-3页 |
| Abstract | 第3-4页 |
| 引言 | 第7-8页 |
| 1 文献综述 | 第8-27页 |
| 1.1 过氧化氢(H_2O_2)的性质、用途及生产方法 | 第8-11页 |
| 1.1.1 过氧化氢的性质 | 第8页 |
| 1.1.2 普通H_2O_2产品的用途及生产方法 | 第8-10页 |
| 1.1.3 高纯H_2O_2产品的用途及生产方法 | 第10-11页 |
| 1.2 H_2O_2合成技术的研究现状 | 第11-16页 |
| 1.2.1 贵金属直接催化法 | 第11-14页 |
| 1.2.2 燃料电池法 | 第14-16页 |
| 1.3 等离子体技术及其在合成H_2O_2方面的研究 | 第16-25页 |
| 1.3.1 等离子体的定义和分类 | 第16页 |
| 1.3.2 介质阻挡放电等离子体的产生方法及应用 | 第16-21页 |
| 1.3.3 等离子体法合成H_2O_2的早期研究 | 第21-22页 |
| 1.3.4 等离子体法合成H_2O_2的近期研究 | 第22-25页 |
| 1.4 论文选题依据及研究内容 | 第25-27页 |
| 2 实验设备和实验方法 | 第27-31页 |
| 2.1 自冷却双介质阻挡放电反应器结构 | 第27页 |
| 2.2 H_2/O_2等离子体直接合成H_2O_2的实验流程 | 第27-29页 |
| 2.3 H_2/O_2等离子体直接合成H_2O_2的实验设备 | 第29-30页 |
| 2.3.1 实验原料 | 第29页 |
| 2.3.2 低温等离子体电源 | 第29页 |
| 2.3.3 质量流量计 | 第29页 |
| 2.3.4 复合气体分析仪 | 第29页 |
| 2.3.5 数码相机 | 第29页 |
| 2.3.6 数字荧光示波器 | 第29-30页 |
| 2.3.7 发射光谱仪 | 第30页 |
| 2.4 实验方法和反应性能评价指标 | 第30-31页 |
| 2.4.1 实验方法 | 第30页 |
| 2.4.2 H_2/O_2等离子体直接合成H_2O_2的反应评价指标 | 第30-31页 |
| 3 添加稀有气体对等离子体直接合成H_2O_2的影响 | 第31-46页 |
| 3.1 添加He、Ne、Ar、Kr、Xe对合成H_2O_2的影响 | 第31-39页 |
| 3.1.1 添加He、Ne、Ar、Kr、Xe的合成H_2O_2反应结果 | 第31-32页 |
| 3.1.2 添加He、Ne、Ar、Kr、Xe的等离子体诊断 | 第32-39页 |
| 3.2 Ar流量对合成H_2O_2的影响 | 第39-43页 |
| 3.2.1 添加不同流量Ar时合成H_2O_2反应结果 | 第39-40页 |
| 3.2.2 添加不同流量Ar的等离子体诊断 | 第40-43页 |
| 3.3 Ar促进合成H_2O_2的原因 | 第43-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-46页 |
| 4 添加水分子对等离子体直接合成H_2O_2的影响 | 第46-57页 |
| 4.1 添加不同流量H_2O时合成H_2O_2反应结果 | 第46-49页 |
| 4.2 添加不同流量H_2O的等离子体诊断 | 第49-52页 |
| 4.3 H_2O分子促进合成H_2O_2的原因 | 第52-56页 |
| 4.4 本章小结 | 第56-57页 |
| 5 共添加H_2O和Ar对等离子体直接合成H_2O_2的影响 | 第57-72页 |
| 5.1 H_2O分子分别与He、Ne、Ar、Kr、Xe协同合成H_2O | 第57-63页 |
| 5.1.1 H_2O分子分别与He、Ne、Ar、Kr、Xe协同合成H_2O_2反应结果 | 第57-58页 |
| 5.1.2 H_2O分子分别与He、Ne、Ar、Kr、Xe协同的等离子体诊断 | 第58-63页 |
| 5.2 H_2O分子与Ar协同合成H_2O | 第63-67页 |
| 5.2.1 H_2O分子与Ar协同合成H_2O_2反应结果 | 第63-64页 |
| 5.2.2 H_2/O_2/Ar/H_2O等离子体诊断 | 第64-67页 |
| 5.3 添加气影响等离子体合成H_2O_2的主要因素 | 第67-71页 |
| 5.4 本章小结 | 第71-72页 |
| 结论 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-79页 |
| 主要符号表 | 第79-80页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第80-81页 |
| 致谢 | 第81-83页 |
