| 摘要 | 第6-7页 |
| ABSTRACT | 第7页 |
| 第一章 引言 | 第12-18页 |
| 1.1 研究背景 | 第12-13页 |
| 1.2 文献综述 | 第13-16页 |
| 1.3 研究意义 | 第16页 |
| 1.4 论文框架结构 | 第16-18页 |
| 第二章 不平衡数据处理的主要方法介绍 | 第18-27页 |
| 2.1 不平衡数据的处理方法 | 第18-19页 |
| 2.2 随机森林算法介绍 | 第19-22页 |
| 2.2.1 随机森林的基本思想 | 第20-21页 |
| 2.2.2 随机森林的一般特性 | 第21-22页 |
| 2.3 不平衡数据模型的评价指标 | 第22-25页 |
| 2.3.1 AUC | 第22-24页 |
| 2.3.2 Kappa系数 | 第24-25页 |
| 2.3.3 半导体行业应用评价指标 | 第25页 |
| 2.4 本章小结 | 第25-27页 |
| 第三章 问题介绍与数据预处理 | 第27-34页 |
| 3.1 半导体行业背景介绍 | 第27-30页 |
| 3.1.1 半导体封装技术 | 第27-28页 |
| 3.1.2 半导体测试技术 | 第28-30页 |
| 3.2 半导体良率预测问题的提出 | 第30-31页 |
| 3.3 数据预处理 | 第31-33页 |
| 3.4 本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 基于欠采样随机森林的Stacking算法及应用 | 第34-46页 |
| 4.1 算法的基本思想 | 第34-35页 |
| 4.2 算法的解释及其在半导体良率提升中的应用 | 第35-44页 |
| 4.2.1 算法的解释 | 第35-38页 |
| 4.2.2 算法的应用 | 第38-44页 |
| 4.3 本章小结 | 第44-46页 |
| 第五章 总结和展望 | 第46-48页 |
| 5.1 本文所做的工作和创新点 | 第46页 |
| 5.2 进一步的研究和展望 | 第46-48页 |
| 参考文献 | 第48-51页 |
| 致谢 | 第51页 |