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高Q值平面微腔的制作及特性测试

摘要第1-5页
Abstract第5-9页
第一章 绪论第9-15页
   ·课题研究意义第9-11页
   ·光学平面微腔的研究状况第11-14页
     ·国外平面微腔研究进展第11-13页
     ·国内平面微腔研究进展第13-14页
   ·本论文结构安排第14-15页
第二章 平面微盘腔的设计与MEMS 工艺制作第15-32页
   ·微盘腔的设计第15-17页
     ·腔内光约束机理介绍第15页
     ·微盘腔的结构设计第15-17页
   ·微盘腔的制作方法概述第17-31页
     ·微盘腔的制作流程第17-19页
     ·SiO_2薄膜层制备第19-20页
     ·涂胶及曝光显影第20-23页
     ·微盘腔氧化层的刻蚀第23-27页
     ·微盘腔硅基的刻蚀第27-31页
   ·本章小结第31-32页
第三章 平面环形微腔的设计与表面热处理工艺第32-42页
   ·平面环形微腔的设计第32-33页
   ·表面热处理工艺介绍第33-39页
     ·实验设备介绍第33-34页
     ·表面处理加工实验第34-39页
   ·平面环形微腔的结构分析第39-41页
   ·本章小结第41-42页
第四章 平面微腔的性能测试第42-54页
   ·性能测试系统介绍第42-50页
     ·锥形光纤制作第42-47页
     ·耦合系统理论分析第47-50页
   ·微腔性能测试第50-53页
   ·本章小结第53-54页
第五章 总结与展望第54-56页
   ·本文总结第54-55页
   ·今后的研究工作展望第55-56页
参考文献第56-60页
攻读硕士学位期间发表的论文及所取得的成果第60-61页
致谢第61页

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