典型电子材料抗辐射能力无损评价软件研制
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究背景 | 第7-8页 |
| ·研究目的和意义 | 第8-9页 |
| ·论文主要工作和结构 | 第9-11页 |
| 第二章 电子材料辐射效应及其评价方法 | 第11-27页 |
| ·电子材料辐射损伤原理 | 第11-21页 |
| ·电子材料辐射损伤机理分析 | 第11-16页 |
| ·电子材料中的缺陷与低频噪声 | 第16-19页 |
| ·用于器件的电子材料辐射效应研究方法 | 第19-21页 |
| ·噪声无损评价方法 | 第21-22页 |
| ·无损评价测试技术 | 第22-25页 |
| ·本章小节 | 第25-27页 |
| 第三章 典型电子材料抗辐射能力无损评价方法研究 | 第27-41页 |
| ·SiO_2 介质材料抗辐射能力无损评价方法概述 | 第27-28页 |
| ·SiO_2 介质材料抗辐射能力噪声评价模型 | 第28-35页 |
| ·评价模型建立 | 第28-31页 |
| ·参数提取 | 第31-33页 |
| ·评价模型验证 | 第33-35页 |
| ·SiO_2 介质材料抗辐射能力噪声评价方案 | 第35-37页 |
| ·评价标准 | 第35-36页 |
| ·评价流程 | 第36-37页 |
| ·pn 结和硅材料无损评价方案 | 第37-40页 |
| ·pn 结材料辐射能力无损评价方法 | 第37-39页 |
| ·硅材料抗辐射能力噪声无损评价方法 | 第39-40页 |
| ·本章小结 | 第40-41页 |
| 第四章 电子材料抗辐射能力无损评价软件研制 | 第41-59页 |
| ·评价系统结构设计 | 第41-46页 |
| ·系统构成 | 第41-42页 |
| ·系统软件模块设计 | 第42-43页 |
| ·人机界面设计 | 第43-45页 |
| ·软件功能 | 第45-46页 |
| ·数据采集模块 | 第46-51页 |
| ·数据采集卡选型 | 第46-48页 |
| ·连续采集存储方法 | 第48-50页 |
| ·采集存储程序设计与实现 | 第50-51页 |
| ·评价方案实现模块 | 第51-56页 |
| ·噪声参数提取程序设计—COM 组件技术 | 第51-52页 |
| ·爆裂噪声分析 | 第52-54页 |
| ·电子材料无损评价分析 | 第54-56页 |
| ·结果输出 | 第56-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 研究工作总结 | 第59-61页 |
| ·论文结论与工作 | 第59-60页 |
| ·展望 | 第60-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 作者在读研期间的成果 | 第67-68页 |
