摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5页 |
1 绪论 | 第9-13页 |
1.1 变压器绕组变形测试仪的研究意义 | 第9页 |
1.2 变压器绕组变形的检测方法 | 第9-11页 |
1.2.1 低压脉冲法 | 第9-10页 |
1.2.2 短路阻抗法 | 第10页 |
1.2.3 部分电容法 | 第10-11页 |
1.2.4 频率响应法 | 第11页 |
1.3 频响分析法的研究现状 | 第11页 |
1.4 本文所作主要工作 | 第11-13页 |
2 频率响应法分析变压器绕组变形原理及接线 | 第13-18页 |
2.1 变压器结构及等效模型 | 第13-15页 |
2.1.1 变压器结构 | 第13页 |
2.1.2 变压器频率响应等效模型 | 第13-15页 |
2.2 变压器绕组变形分析 | 第15-16页 |
2.2.1 常见电力系统故障对变压器绕组的影响 | 第15页 |
2.2.2 故障状态下变压器绕组的受力分析 | 第15-16页 |
2.3 频率响应法分析绕组变形原理 | 第16-17页 |
2.3.1 频率响应分析法原理 | 第16-17页 |
2.3.2 频率响应法的测试接线 | 第17页 |
2.4 本章小结 | 第17-18页 |
3 变压器绕组变形测试仪硬件设计 | 第18-35页 |
3.1 系统硬件总体设计 | 第18-19页 |
3.2 DSP 数据处理模块设计 | 第19-21页 |
3.2.1 TMS320C28xx 系列 DSP 选型 | 第19页 |
3.2.2 DSP 数据处理模块硬件设计 | 第19-21页 |
3.3 DDS 扫频信号发生模块设计 | 第21-26页 |
3.3.1 扫频信号发生模块总体结构 | 第21-22页 |
3.3.2 DDS 数字频率合成芯片及电路设计 | 第22-24页 |
3.3.3 低通滤波电路设计 | 第24-26页 |
3.3.4 功率放大电路设计 | 第26页 |
3.4 高速数据采集及缓冲存储模块设计 | 第26-32页 |
3.4.1 高速数据采集及缓冲存储模块总体结构设计 | 第26-27页 |
3.4.2 信号调理电路设计 | 第27-28页 |
3.4.3 频率跟踪电路设计 | 第28-29页 |
3.4.4 A/D 模数转换器电路设计 | 第29-30页 |
3.4.5 高速 FIFO 缓冲存储电路设计 | 第30-32页 |
3.5 ARM 控制管理模块设计 | 第32-35页 |
3.5.1 STM32 系列 ARM 微处理器选型 | 第32页 |
3.5.2 ARM 控制管理模块硬件设计 | 第32-35页 |
4 变压器绕组变形测试仪软件设计 | 第35-42页 |
4.1 DSP 数据处理模块程序设计 | 第35-39页 |
4.1.1 DSP 软件开发流程 | 第35页 |
4.1.2 TMS320F2812 主程序设计 | 第35-36页 |
4.1.3 数据采集分析子程序设计 | 第36-37页 |
4.1.4 AD9851 控制程序设计 | 第37-38页 |
4.1.5 A/D 数据采集及 FIFO 缓存程序设计 | 第38-39页 |
4.2 ARM 控制管理模块程序设计 | 第39-42页 |
4.2.1 μC/OS-II 嵌入式操作系统 | 第39-40页 |
4.2.2 μC/OS-II 操作系统移植与应用程序开发 | 第40-42页 |
5 频响法检测变压器绕组变形的仿真 | 第42-73页 |
5.1 Pspice 仿真软件介绍 | 第42-43页 |
5.2 变压器绕组频率响应的仿真 | 第43-44页 |
5.3 单一参数变化时的频率响应 | 第44-63页 |
5.3.1 分布电感变化时的频率响应 | 第44-51页 |
5.3.2 分布电容变化时的频率响应 | 第51-58页 |
5.3.3 对地电容变化时的频率响应 | 第58-63页 |
5.4 多参数变化时的频率响应 | 第63-69页 |
5.4.1 正交试验法简介 | 第63-64页 |
5.4.2 正交试验法分析绕组响应 | 第64-69页 |
5.5 参数变化与绕组变形的关系 | 第69-71页 |
5.5.1 电感变化与绕组变形及频谱的关系 | 第69-70页 |
5.5.2 分布电容变化与绕组变形及频谱的关系 | 第70页 |
5.5.3 对地电容变化与绕组变形及频谱的关系 | 第70-71页 |
5.6 本章小结 | 第71-73页 |
6 总结与展望 | 第73-74页 |
6.1 总结 | 第73页 |
6.2 展望 | 第73-74页 |
参考文献 | 第74-76页 |
在读期间发表的学术论文 | 第76-77页 |
作者简历 | 第77-78页 |
致谢 | 第78-79页 |