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0.18um FPGA芯片设计与实现

摘要第4-5页
ABSTRACT第5页
第一章 引言第6-8页
    1.1 FPGA概述第6-7页
    1.2 工作重点第7页
    1.3 论文组织第7-8页
第二章 FPGA结构第8-16页
    2.1 FPGA体系结构第8-9页
    2.2 可编程逻辑单元结构描述第9-12页
    2.3 可编程互连资源结构描述第12-16页
第三章 可编程逻辑单元结构与功能第16-27页
    3.1 FPGA-3可编程逻辑单元的架构第16-17页
    3.2 FPGA-3中SLICE以及CLB的功能介绍第17-27页
        3.2.1 查找表功能第18页
        3.2.2 附加逻辑功能第18-22页
        3.3.3 算术逻辑功能第22-25页
        3.3.4 分布式RAM和移位寄存器功能第25-27页
第四章 可编程互连资源介绍及分析第27-37页
    4.1 FPGA-3芯片内部可编程互连资源概述第27-28页
    4.2 FPGA-3芯片内部可重复互连单元介绍第28-33页
        4.2.1 FPGA-3芯片中TILE的互连资源第29-30页
        4.2.2 FPGA-3芯片中TILE互连资源之间的连接关系第30-32页
        4.2.3 FPGA-3芯片TILE中的IMUX和OMUX第32-33页
    4.3 FPGA-3中I/O互连资源第33-37页
第五章 FPGA-3版图设计第37-57页
    5.1 版图描述第37-38页
    5.2 整体版图介绍第38-39页
    5.3 FPGA-3版图设计思路与方法第39-46页
        5.3.1 规划铝线资源第40-41页
        5.3.2 规划整体电源布局第41-43页
        5.3.3 时钟网络的版图实现第43-46页
    5.4 TILE的版图第46-52页
        5.4.1 TILE版图的布局与布线第47-51页
        5.4.2 TILE中的扭线技巧第51-52页
        5.4.3 SRAM版图介绍第52页
    5.5 版图的面积、一致性和良率考虑第52-57页
        5.5.1 面积的考虑第53页
        5.5.2 一致性的保证第53页
        5.5.3 良率考虑第53-57页
第六章 FPGA-2的测试第57-67页
    6.1 FPGA-2测试概述第57-60页
        6.1.1 集成电路测试和FPGA测试概述第57-58页
        6.1.2 FPGA-2测试平台介绍第58-60页
    6.2 FPGA-2测试结果第60-67页
        6.2.1 FPGA-2芯片PAD功能测试第60-61页
        6.2.2 FPGA-2逻辑单元功能测试第61页
        6.2.3 FPGA-2芯片互连结构测试第61-63页
        6.2.4 FPGA-2的Block RAM测试第63-64页
        6.2.5 FPGA-2的部分交流参数测试第64-65页
        6.2.6 FPGA-2功能电路测试第65页
        6.2.7 FPGA-2芯片测试小结第65-67页
第七章 总结与展望第67-69页
    7.1 工作总结第67页
    7.2 今后工作展望第67-69页
参考文献第69-71页
致谢第71-72页

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