| 摘要 | 第4-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-37页 |
| 1.1 引言 | 第11页 |
| 1.2 SERS概述 | 第11-17页 |
| 1.2.1 SERS相关理论 | 第11-13页 |
| 1.2.2 热点 | 第13-14页 |
| 1.2.3 提高SERS基底性能的方式 | 第14-17页 |
| 1.3 LDI MS概述 | 第17-26页 |
| 1.3.1 MALDI MS概述 | 第17-23页 |
| 1.3.2 SALDI MS概述 | 第23-26页 |
| 1.4 纳米材料 | 第26-35页 |
| 1.4.1 纳米材料概述 | 第26页 |
| 1.4.2 微加工技术手段 | 第26-35页 |
| 1.5 本文研究思路及主要内容 | 第35-37页 |
| 第二章 利用有序凹腔结构提高SERS检测重复性 | 第37-55页 |
| 2.1 引言 | 第37-38页 |
| 2.2 实验部分 | 第38-40页 |
| 2.2.1 聚苯乙烯分子链段膜的制备 | 第38页 |
| 2.2.2 单轴和双轴纳米凹腔结构的制备 | 第38-40页 |
| 2.2.3 数据表征 | 第40页 |
| 2.2.4 时域有限差分法（FDTD）理论模拟 | 第40页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第40-52页 |
| 2.3.1 抗刻蚀膜图案的探究 | 第40-43页 |
| 2.3.2 凹腔结构阵列的制备 | 第43-46页 |
| 2.3.3 银膜覆盖的凹腔阵列结构的等离子体特性 | 第46-50页 |
| 2.3.4 银膜覆盖的凹腔阵列结构在改变旋转角度θ时的FDTD理论模拟 | 第50页 |
| 2.3.5 银膜覆盖的凹腔阵列结构的SERS性能 | 第50-52页 |
| 2.4 本章小结 | 第52-55页 |
| 第三章 毛细力诱导银纳米粒子形成高密度SERS热点：实现分析物分子的痕量检测 | 第55-73页 |
| 3.1 引言 | 第55-56页 |
| 3.2 实验部分 | 第56-57页 |
| 3.2.1 具有高密度热点SERS基底的制备 | 第56-57页 |
| 3.2.2 数据表征 | 第57页 |
| 3.2.3 时域有限差分法（FDTD）模拟 | 第57页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第57-71页 |
| 3.3.1 具有高密度热点SERS基底的制备 | 第57-63页 |
| 3.3.2 银纳米粒子的量对于SERS基底性能的影响 | 第63-65页 |
| 3.3.3 低摩擦对于制备SERS基底性能的影响 | 第65-66页 |
| 3.3.4 硅锥密度对于制备SERS基底性能的影响 | 第66-68页 |
| 3.3.5 FDTD理论模拟 | 第68-69页 |
| 3.3.6 自聚集银纳米粒子形成高密度热点的SERS基底性能 | 第69-71页 |
| 3.4 本章小结 | 第71-73页 |
| 第四章 基于超疏水硅纳米柱阵列消除甜点效应，实现MALDI质谱定量分析 | 第73-85页 |
| 4.1 引言 | 第73-74页 |
| 4.2 实验部分 | 第74-75页 |
| 4.2.1 特定靶板的制备 | 第74-75页 |
| 4.2.2 SMALDI方法制备样品 | 第75页 |
| 4.2.3 数据表征 | 第75页 |
| 4.3 结果与讨论 | 第75-83页 |
| 4.3.1 特定靶板的制备与SMALDI方法制备样品 | 第75-78页 |
| 4.3.2 基质选择及浓度的影响 | 第78-81页 |
| 4.3.3 SMALDI方法无内标定量分析 | 第81-83页 |
| 4.4 本章小结 | 第83-85页 |
| 第五章 利用纳米锥阵列为SALDI基底，提高分子的解吸电离效率 | 第85-97页 |
| 5.1 引言 | 第85-86页 |
| 5.2 实验部分 | 第86-87页 |
| 5.2.1 SALDI基底的制备 | 第86-87页 |
| 5.2.2 数据表征 | 第87页 |
| 5.2.3 FDTD理论模拟 | 第87页 |
| 5.3 结果与讨论 | 第87-96页 |
| 5.3.1 SALDI基底的制备 | 第87-89页 |
| 5.3.2 设计制备的SALDI基底的光学特性和等离子体特性 | 第89-91页 |
| 5.3.3 尖端效应 | 第91-94页 |
| 5.3.4 设计制备的SALDI基底性能 | 第94-96页 |
| 5.4 本章小结 | 第96-97页 |
| 第六章 结论与展望 | 第97-101页 |
| 6.1 利用有序凹腔结构提高SERS检测重复性 | 第97-98页 |
| 6.2 毛细力诱导银纳米粒子形成高密度SERS热点：实现分析物分子的痕量检测 | 第98页 |
| 6.3 基于超疏水硅纳米柱阵列消除甜点效应，实现MALDI质谱定量分析 | 第98-99页 |
| 6.4 利用纳米锥阵列为SALDI基底，提高分子的解吸电离效率 | 第99-101页 |
| 参考文献 | 第101-115页 |
| 攻读博士学位期间的科研成果 | 第115-118页 |
| 作者简介 | 第118-119页 |
| 致谢 | 第119页 |
