| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 1 绪论 | 第10-20页 |
| 1.1 引言 | 第10页 |
| 1.2 铁电材料 | 第10-18页 |
| 1.2.1 铁电体 | 第10-11页 |
| 1.2.2 铁电回线 | 第11-12页 |
| 1.2.3 铁电畴以及铁电极化的反转 | 第12-14页 |
| 1.2.4 铁电体的光伏效应 | 第14-15页 |
| 1.2.5 铁电体的阻变效应 | 第15-18页 |
| 1.3 铁电材料的相关应用 | 第18-19页 |
| 1.4 课题目的与意义 | 第19-20页 |
| 2 实验样品的制备以及其表征手段 | 第20-30页 |
| 2.1 外延铁电薄膜样品的制备方法 | 第20-24页 |
| 2.1.1 利用脉冲激光沉积系统制备薄膜 | 第20-22页 |
| 2.1.2 利用溶胶-凝胶法制备薄膜 | 第22-24页 |
| 2.2 薄膜样品的表征方法 | 第24-30页 |
| 2.2.1 扫描探针显微镜 | 第24-26页 |
| 2.2.2 X射线衍射仪 | 第26-27页 |
| 2.2.3 Keithley数字源表 | 第27-28页 |
| 2.2.4 紫外可见分光光度计 | 第28-30页 |
| 3 BiFeO_3的铁电性和光伏效应研究 | 第30-47页 |
| 3.1 靶材的制备 | 第30-31页 |
| 3.2 铁电薄膜的脉冲激光沉积制备法 | 第31-33页 |
| 3.3 高质量BiFeO_3外延薄膜的制备 | 第33-35页 |
| 3.3.1 通过表面形貌初步判断BiFeO_3薄膜的质量 | 第33-34页 |
| 3.3.2 通过晶格结构分析确定BiFeO_3薄膜的物相以及外延性 | 第34-35页 |
| 3.3.3 本文不同测量所用的多层BiFeO_3薄膜的结构概括 | 第35页 |
| 3.4 BiFeO_3薄膜铁电性的研究 | 第35-36页 |
| 3.5 BiFeO_3薄膜压电回线的研究 | 第36-37页 |
| 3.6 BiFeO_3薄膜光伏效应的研究 | 第37-46页 |
| 3.6.1 BiFeO_3薄膜电阻率随温度变化关系的研究 | 第37-38页 |
| 3.6.2 不同光照强度下BiFeO_3薄膜光伏效应的研究 | 第38-41页 |
| 3.6.3 BiFeO_3薄膜的短路电流与光照强度关系的研究 | 第41-42页 |
| 3.6.4 BiFeO_3薄膜短路电流与极化强度关系的研究 | 第42-44页 |
| 3.6.5 BiFeO_3薄膜光伏效应与温度关系的研究 | 第44-46页 |
| 3.7 本章小结 | 第46-47页 |
| 4 Bi_2FeCrO_6薄膜的铁电性和阻变效应研究 | 第47-64页 |
| 4.1 Bi_2FeCrO_6高质量外延薄膜的制备 | 第47-50页 |
| 4.1.1 通过表面形貌初步判断Bi_2FeCrO_6薄膜的质量 | 第47-48页 |
| 4.1.2 通过晶格结构分析确定Bi_2FeCrO_6薄膜的外延性 | 第48-49页 |
| 4.1.3 本文不同测量所用的多层Bi_2FeCrO_6薄膜的结构概括 | 第49-50页 |
| 4.2 Bi_2FeCrO_6薄膜铁电性的研究 | 第50页 |
| 4.3 利用压电力显微镜进行Bi_2FeCrO_6薄膜压电回线测量 | 第50-51页 |
| 4.4 Bi_2FeCrO_6薄膜透射谱的研究 | 第51-52页 |
| 4.5 利用导电原子力显微镜对Bi_2FeCrO_6薄膜阻变效应的研究 | 第52-59页 |
| 4.5.1 La_(0.7)Sr_(0.3)MnO_3/Bi_2FeCrO_6薄膜电流电压曲线的研究 | 第52-53页 |
| 4.5.2 SrRuO_3/Bi_2FeCrO_6薄膜电流电压曲线的研究 | 第53-56页 |
| 4.5.3 Bi_2FeCrO_6薄膜阻变效应重复性的研究 | 第56-59页 |
| 4.6 利用扫描隧道显微镜进行Bi_2FeCrO_6薄膜阻变效应的研究 | 第59-63页 |
| 4.6.1 Bi_2FeCrO_6薄膜电流电压特性曲线的研究 | 第59-62页 |
| 4.6.2 Bi_2FeCrO_6薄膜阻变效应重复性的研究 | 第62-63页 |
| 4.7 本章小结 | 第63-64页 |
| 5 结论 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 参考文献 | 第66-72页 |
| 附录 | 第72页 |
