| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·研究背景 | 第10-11页 |
| ·长余辉材料力致发光测量技术 | 第11-15页 |
| ·APD探测器的发展 | 第11-12页 |
| ·APD外围驱动技术研究进展 | 第12-15页 |
| ·本课题主要研究内容 | 第15-16页 |
| 第二章 几种光电转换方案的比较 | 第16-21页 |
| ·PIN光电探测器 | 第16-17页 |
| ·PIN光电探测器的原理 | 第16-17页 |
| ·PIN光电探测器的特点 | 第17页 |
| ·雪崩光电二极管(APD) | 第17-18页 |
| ·APD工作原理 | 第17-18页 |
| ·APD性能特点 | 第18页 |
| ·光电倍增管(PMT)探测器 | 第18-20页 |
| ·光电倍增管的工作原理 | 第18-19页 |
| ·光电倍增管的主要特性 | 第19-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第三章 雪崩光电二极管的特性分析 | 第21-29页 |
| ·雪崩光电二极管的参数 | 第21-26页 |
| ·暗电流产生机理与测试 | 第21-22页 |
| ·响应度与量子效率 | 第22-24页 |
| ·雪崩倍增因子 | 第24-26页 |
| ·APD探测器输出噪声与信噪比 | 第26-28页 |
| ·APD探测器的噪声电流 | 第26-27页 |
| ·APD探测器输出电流信噪比 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 第四章 光电探测子系统的设计 | 第29-43页 |
| ·系统总体设计 | 第29页 |
| ·接收光学系统 | 第29-31页 |
| ·光电流放大电路的设计 | 第31-38页 |
| ·测量原理及运算放大器选型 | 第31-36页 |
| ·电路的设计与实现 | 第36页 |
| ·光电流放大模块设计中的抗干扰措施 | 第36-38页 |
| ·低纹波高压直流电源的设计 | 第38-42页 |
| ·常见的DC-DC变换方案 | 第38-39页 |
| ·推挽式DC-DC变换原理 | 第39页 |
| ·低纹波高压电源模块的设计 | 第39-42页 |
| ·本章小结 | 第42-43页 |
| 第五章 嵌入式数据采集系统的设计 | 第43-57页 |
| ·嵌入式数据采集系统硬件电路设计 | 第43-49页 |
| ·MCU控制单元 | 第43-45页 |
| ·STM32最小系统设计 | 第45-46页 |
| ·供电电路设计 | 第46-47页 |
| ·通信电路设计 | 第47-48页 |
| ·JTAG调试电路设计 | 第48-49页 |
| ·嵌入式数据采集系统软件设计 | 第49-55页 |
| ·系统主程序模块 | 第49-50页 |
| ·A/D转换程序设计 | 第50-52页 |
| ·DMA传输 | 第52-54页 |
| ·串口通信程序设计 | 第54-55页 |
| ·本章小结 | 第55-57页 |
| 第六章 样品的制备与系统测试 | 第57-61页 |
| ·SrAl_2O_4:(Eu~(2+),Dy~(3+))长余辉发光膜的制备 | 第57页 |
| ·光电探测子系统的测试 | 第57-59页 |
| ·测试不同冲击力下SrAl_2O_4:(Eu~(2+),Dy~(3+))薄膜的力致发光特性 | 第59-60页 |
| ·小结 | 第60-61页 |
| 第七章 总结与展望 | 第61-62页 |
| ·总结 | 第61页 |
| ·展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 附录 | 第67页 |