| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-11页 |
| ·TDI技术应用背景 | 第8-9页 |
| ·TDI型图像传感器发展现状 | 第9-10页 |
| ·选题的目的和意义 | 第10页 |
| ·论文内容安排 | 第10-11页 |
| 第二章 TDI CMOS图像传感器原理及系统架构 | 第11-24页 |
| ·TDI原理 | 第11-14页 |
| ·TDI CCD图像传感器工作原理 | 第11-13页 |
| ·TDI CMOS图像传感器工作原理 | 第13-14页 |
| ·曝光方式 | 第14-19页 |
| ·全局曝光 | 第15-16页 |
| ·滚筒式曝光 | 第16-17页 |
| ·过采样滚筒式曝光 | 第17-19页 |
| ·成像一致性 | 第19-20页 |
| ·成像系统质量评价 | 第20-21页 |
| ·过采样引起的调制传输函数下降 | 第21页 |
| ·像移引起的调制传输函数下降 | 第21页 |
| ·信号累加方式 | 第21-23页 |
| ·模拟域累加方式 | 第22-23页 |
| ·数字域累加方式 | 第23页 |
| ·小结 | 第23-24页 |
| 第三章 基于Verilog-AMS的电路建模 | 第24-39页 |
| ·Veilog-AMS语言及基本语法 | 第24-26页 |
| ·像素建模 | 第26-31页 |
| ·4T APS结构 | 第26-27页 |
| ·光电二极管模型 | 第27-28页 |
| ·光电荷转换 | 第28-29页 |
| ·4T APS模型 | 第29-31页 |
| ·模数转换器建模 | 第31-35页 |
| ·Cyclic ADC电路结构 | 第31-32页 |
| ·电压传输函数 | 第32-33页 |
| ·RSD编码电路 | 第33-34页 |
| ·Cyclic ADC模型 | 第34-35页 |
| ·数字域累加器建模 | 第35-37页 |
| ·数字域累加器电路结构 | 第36-37页 |
| ·数字域累加器模型 | 第37页 |
| ·数字域TDI CMOS图像传感器系统模型 | 第37-38页 |
| ·小结 | 第38-39页 |
| 第四章 数字域累加电路及时序控制电路设计 | 第39-57页 |
| ·数字域TDI算法 | 第39-40页 |
| ·数字累加电路设计与实现 | 第40-43页 |
| ·数字累加电路控制时序 | 第43-44页 |
| ·工作模式一 | 第43-44页 |
| ·工作模式二 | 第44页 |
| ·电路仿真 | 第44-48页 |
| ·累加电路混合信号仿真结果 | 第45-46页 |
| ·寄生对累加器控制信号的影响 | 第46-47页 |
| ·累加电路版图设计 | 第47-48页 |
| ·彩色数字域累加电路及时序控制电路设计 | 第48-56页 |
| ·RGB彩色模型 | 第48-49页 |
| ·彩色TDI图像传感器 | 第49-50页 |
| ·彩色TDI数字域算法 | 第50-52页 |
| ·数字域彩色TDI电路实现 | 第52-54页 |
| ·仿真结果与分析 | 第54-56页 |
| ·小结 | 第56-57页 |
| 第五章 时序控制电路布局布线 | 第57-71页 |
| ·逻辑综合 | 第58-63页 |
| ·初始设置 | 第59页 |
| ·设计环境说明 | 第59-60页 |
| ·设计约束 | 第60-61页 |
| ·RTL描述读入及网表优化 | 第61页 |
| ·网表生成及报告 | 第61-62页 |
| ·逻辑综合结果 | 第62-63页 |
| ·布局布线 | 第63-66页 |
| ·数据准备及设计读入（Design Setup） | 第64页 |
| ·预布局（Floorplan） | 第64-65页 |
| ·布局（Place） | 第65页 |
| ·时钟树综合（Clock Tree Synthesis） | 第65页 |
| ·布线（Route） | 第65-66页 |
| ·生产预设计（Design for Manufacturing） | 第66页 |
| ·形式验证 | 第66-67页 |
| ·静态时序分析 | 第67-69页 |
| ·版图物理验证及寄生参数抽取 | 第69-70页 |
| ·小结 | 第70-71页 |
| 第六章 总结与展望 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第75-76页 |
| 致谢 | 第76页 |