首页--环境科学、安全科学论文--环境污染及其防治论文--水体污染及其防治论文

用于水体修复的强化传递型复合光催化反应器的研究

中文摘要第1-4页
ABSTRACT第4-9页
第一章 文献综述第9-20页
   ·引言第9页
   ·TiO_2光催化技术第9-13页
     ·TiO_2晶体结构第9-10页
     ·TiO_2光催化反应的机理第10-11页
     ·TiO_2光催化反应的历程第11-12页
     ·TiO_2光催化活性的研究第12-13页
   ·TiO_2光催化剂的回收第13页
   ·TiO_2固定化的研究现状第13-18页
     ·无机载体第14页
     ·聚合物载体第14-15页
     ·SiO_2外壳对传质的影响第15-16页
     ·SiO_2外壳对传光的影响第16-17页
     ·聚碳酸酯载体第17-18页
   ·本论文研究意义、研究内容和创新点第18-20页
     ·本论文研究意义第18-19页
     ·本论文研究内容第19页
     ·本论文的创新点第19-20页
第二章 TiO_2/油酸复合物的制备和表征第20-34页
   ·实验部分第20-25页
     ·实验原料第20页
     ·实验仪器第20-21页
     ·TiO_2/油酸复合物的制备第21-22页
     ·甲基橙最大吸收波长和标准曲线测定第22-24页
     ·样品表征和性能测试第24-25页
   ·结果与讨论第25-31页
     ·TiO_2的制备和光催化性能第25-28页
     ·TiO_2/油酸复合物的制备和光催化性能第28-31页
   ·样品的表征第31-33页
     ·SEM 和 TEM 表征第31-32页
     ·FT-IR 表征第32-33页
   ·本章小结第33-34页
第三章 TOP 的制备和光催化性能研究第34-42页
   ·实验部分第34-37页
     ·实验原料第34页
     ·实验仪器第34-35页
     ·TOP 的制备第35页
     ·样品表征和性能测试第35-37页
   ·结果与讨论第37-39页
     ·TiO_2/油酸复合物的光催化性能第37-38页
     ·紫外光处理对 TOP 的光催化性能的影响第38-39页
   ·样品的表征第39-41页
     ·SEM 表征第39-40页
     ·孔隙率研究第40页
     ·FT-IR 表征第40-41页
   ·本章小结第41-42页
第四章 SVT 的制备和表征第42-57页
   ·实验部分第42-45页
     ·实验原料第42页
     ·实验仪器第42-43页
     ·SVT 的制备第43-44页
     ·样品表征和性能测试第44-45页
   ·结果与讨论第45-49页
     ·TEOS 对 SVT 光催化性能的影响第45-46页
     ·KH550 对 SVT 光催化性能的影响第46-47页
     ·SVT 光催化性能的研究第47-48页
     ·SVT 透光率的研究第48-49页
   ·样品表征第49-53页
     ·SEM 和 TEM 表征第49-50页
     ·BET 表征第50-52页
     ·XRD 表征第52页
     ·FT-IR 表征第52-53页
   ·SVT 的合成机理第53-54页
   ·SVT 与甲基橙的作用机制第54-55页
   ·本章小结第55-57页
第五章 SVTP 的制备和性能研究第57-69页
   ·实验部分第57-60页
     ·实验原料第57页
     ·实验仪器第57-58页
     ·SVTP 的制备第58-59页
     ·样品表征和性能测试第59-60页
   ·结果与讨论第60-65页
     ·PC 用量对 PC 膜孔隙率的影响第60-61页
     ·DMC 用量对 PC 膜孔隙率的影响第61-62页
     ·TiO_2用量对 PC 膜孔隙率的影响第62页
     ·SVTP 用量对光催化性能的影响第62-63页
     ·pH 值对 SVTP 光催化性能的影响第63-64页
     ·SVTP 的使用次数对光催化性能的影响第64-65页
   ·样品表征第65-68页
     ·SEM 表征第65-66页
     ·FT-IR 表征第66-67页
     ·SVTP 与甲基橙的作用机制第67-68页
   ·本章小结第68-69页
第六章 结论第69-70页
参考文献第70-77页
发表论文和参加科研情况说明第77-78页
致谢第78页

论文共78页,点击 下载论文
上一篇:Ni75Fe25-ZnO纳米颗粒膜的高频软磁特性研究
下一篇:二次离子质谱仪的杂质污染分析在半导体失效分析中的应用