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适用于射频识别标签的低功耗存储器电路研究

目录第1-5页
摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第一章 前言第7-14页
   ·研究背景第7-10页
     ·射频识别标签简介第7-9页
     ·嵌入式非挥发性存储器简介第9-10页
   ·研究现状第10-12页
     ·低成本研究第10页
     ·大容量存储器研究第10-11页
     ·低电压与低功耗研究第11-12页
   ·论文的主要工作和贡献第12页
   ·论文组织结构第12-14页
第二章 超高频无源标签系统对存储器的性能要求分析第14-18页
   ·标签通信距离与芯片功耗关系第14-17页
   ·UHF RFID标签系统对存储器读写速度的要求第17页
     ·存储器读速度要求第17页
     ·存储器写速度要求第17页
   ·小结第17-18页
第三章 存储单元特性研究与比较第18-32页
   ·阻变存储单元结构概述第18-25页
     ·1T1R Cu_xO阻变存储器的基本结构第18-19页
     ·1T1R Cu_xO阻变存储器的基本特性与操作方式第19-21页
     ·针对RFID应用优化的2T2R结构存储单元第21-23页
     ·2T2R RRAM优势及设计难点第23-25页
   ·EEPROM单元结构及操作原理简介第25-27页
   ·性能比较第27-31页
     ·Logic NVM简介第27-28页
     ·铁电存储器简介第28-29页
     ·性能比较小结第29-31页
   ·小结第31-32页
第四章 适用于无源超高频标签的RRAM设计第32-62页
   ·系统架构描述第32-33页
   ·RRAM存储阵列设计第33-36页
   ·地址译码电路第36-39页
     ·行译码电路第37-38页
     ·列译码电路第38-39页
   ·灵敏放大器第39-44页
     ·比较器设计第40-42页
     ·位线寄生分析第42-44页
   ·高压管理电路第44-53页
     ·高效率DC-DC电荷泵设计第45-51页
     ·带尖峰电流控制的门控时钟稳压环路设计第51-53页
   ·位线控制电路第53-56页
   ·实现与测试第56-61页
     ·标签整体测试第57-58页
     ·RRAM存储器测试第58-61页
   ·小结第61-62页
第五章 低电压、低功耗EEPROM读出电路研究与实现第62-74页
   ·EEPROM读操作难点分析第62-65页
     ·首bit读错分析第62-63页
     ·低电压读错分析第63-65页
   ·电路实现第65-70页
     ·阵列划分第65-66页
     ·带预充电功能与修正功能的行译码电路第66-68页
     ·低电压灵敏放大器设计第68-70页
   ·芯片实现与测试第70-73页
     ·测试结果第71-73页
   ·小结第73-74页
第六章 总结与展望第74-77页
   ·总结第74-75页
   ·展望第75-77页
参考文献第77-80页
附录Ⅰ 硕士期间的发表与著作情况第80-81页
 一作论文第80页
 署名论文第80-81页
致谢第81-82页

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