| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·IC 验证技术概述 | 第11-13页 |
| ·基于仿真的功能验证技术 | 第11页 |
| ·静态时序技术 | 第11-12页 |
| ·形式验证技术 | 第12-13页 |
| ·物理验证与分析技术 | 第13页 |
| ·SoC 验证方法现状 | 第13-14页 |
| ·课题的意义 | 第14页 |
| ·课题来源与本人工作 | 第14-15页 |
| ·论文组织结构 | 第15-16页 |
| 第二章 雷达信号处理 SoC 芯片功能以及设计介绍 | 第16-25页 |
| ·雷达芯片功能介绍 | 第17-19页 |
| ·各模块功能简述 | 第17-18页 |
| ·工作模式 | 第18-19页 |
| ·雷达信号处理芯片设计简介 | 第19-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 第三章 雷达信号处理 SoC 芯片功能验证 | 第25-39页 |
| ·功能验证技术概述 | 第25-27页 |
| ·黑盒法 | 第25-26页 |
| ·白盒法 | 第26-27页 |
| ·灰盒法 | 第27页 |
| ·雷达 SoC 验证环境设计 | 第27-29页 |
| ·验证环境中各个模块介绍 | 第28-29页 |
| ·验证环境搭建 | 第29-35页 |
| ·CPU 模式工作环境 | 第29-33页 |
| ·standalone 工作模式 | 第33-34页 |
| ·验证环境文件组织结构 | 第34-35页 |
| ·验证自动化 | 第35-37页 |
| ·测试用例提取 | 第35-36页 |
| ·测试的执行写控制 | 第36页 |
| ·测试用例自检测设计 | 第36-37页 |
| ·测试结果 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第四章 雷达信号处理 SoC 芯片的形式验证 | 第39-47页 |
| ·形式验证的基本特点 | 第39-40页 |
| ·雷达信号处理 SoC 芯片的形式验证 | 第40-46页 |
| ·形式验证分析原理 | 第41-42页 |
| ·形式验证的流程 | 第42-44页 |
| ·雷达信号处理SoC 芯片形式验证举例 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第五章 雷达信号处理 SoC 芯片时序验证 | 第47-68页 |
| ·时序验证的主要方法 | 第47-48页 |
| ·雷达信号处理 SoC 芯片的静态时序分析 | 第48-62页 |
| ·静态时序分析原理 | 第48-49页 |
| ·静态时序分析的过程 | 第49-53页 |
| ·雷达数字信号处理芯片的静态时序分析 | 第53-55页 |
| ·雷达芯片STA 举例 | 第55-62页 |
| ·雷达信号处理 SoC 芯片的动态验证 | 第62-67页 |
| ·建立时序验证环境 | 第62页 |
| ·SDF 文件与时序标注 | 第62-64页 |
| ·时序仿真中的问题 | 第64-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 第六章 基于内建自测试技术的可测性设计 | 第68-79页 |
| ·MBIST 结构及原理 | 第69-70页 |
| ·存储器内建自测试的优势 | 第70-71页 |
| ·存储器故障类型及测试算法 | 第71-74页 |
| ·存储器常见故障类型及检测方法 | 第71-72页 |
| ·March 算法 | 第72-74页 |
| ·ROM 内建自测试 | 第74-75页 |
| ·雷达信号处理SOC 芯片的BIST 设计 | 第75-76页 |
| ·测试流程 | 第76-78页 |
| ·测试过程与结果 | 第77-78页 |
| ·本章总结 | 第78-79页 |
| 第七章 总结 | 第79-80页 |
| 致谢 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-82页 |
| 攻硕期间的研究成果 | 第82-83页 |