数模混合电路的测试与故障诊断的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-19页 |
| ·本课题研究的背景、目的 | 第12-13页 |
| ·国内外研究状况分析 | 第13-17页 |
| ·模拟电路故障诊断理论的发展及现状 | 第13-15页 |
| ·数字电路故障诊断理论的发展及现状 | 第15-16页 |
| ·数模混合电路故障诊断技术 | 第16-17页 |
| ·课题主要研究工作 | 第17-18页 |
| ·本论文拟解决的关键问题 | 第18-19页 |
| 第二章 DES理论 | 第19-26页 |
| ·基本概念 | 第19-20页 |
| ·故障的基本类型 | 第19页 |
| ·数字电路故障模式 | 第19-20页 |
| ·故障字典法 | 第20-23页 |
| ·建立字典 | 第20-23页 |
| ·故障字典法存在的问题 | 第23页 |
| ·DES理论 | 第23-26页 |
| ·离散事件 | 第24页 |
| ·离散事件系统 | 第24-25页 |
| ·DES理论的主要应用 | 第25-26页 |
| 第三章 基于DES理论的可测试性分析 | 第26-36页 |
| ·可测试性概述 | 第26-28页 |
| ·可测试的发展 | 第26-27页 |
| ·可测试性的度量 | 第27-28页 |
| ·基于DES理论的模型 | 第28-29页 |
| ·电路系统可测试性与隔离率 | 第29-31页 |
| ·可测试性定义 | 第29-30页 |
| ·故障隔离率 | 第30-31页 |
| ·电路可测试性的分析 | 第31-35页 |
| ·数字电路 | 第31-32页 |
| ·模拟电路 | 第32-33页 |
| ·数模混合电路 | 第33-35页 |
| ·小结 | 第35-36页 |
| 第四章 求取最小测试集 | 第36-49页 |
| ·测试矢量集的优化 | 第36-37页 |
| ·电路的最小测试集 | 第37-38页 |
| ·粗糙集理论 | 第38-43页 |
| ·知识与知识库 | 第38-39页 |
| ·一些重要的概念 | 第39-40页 |
| ·知识约简 | 第40页 |
| ·求取最小测试集的建模 | 第40-42页 |
| ·约简的具体步骤 | 第42-43页 |
| ·基于粗糙集理论求解最小测试集实例 | 第43-49页 |
| 第五章 故障电路的自动测试系统 | 第49-60页 |
| ·自动测试系统概述 | 第49-50页 |
| ·自动测试系统的设计方案 | 第50-51页 |
| ·自动测试系统总线选择 | 第51-53页 |
| ·自动测试设备的GPIB程序编写 | 第53-56页 |
| ·软件系统 | 第56-57页 |
| ·测试过程 | 第57-60页 |
| 第六章 总结与展望 | 第60-62页 |
| ·对本文的总结 | 第60-61页 |
| ·对未来的展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-65页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第65页 |
