摘要 | 第1-5页 |
ABSTRACT | 第5-8页 |
第一章 绪论 | 第8-14页 |
·LXI 总线技术的发展及总线标准概述 | 第8-9页 |
·基于 LXI 总线技术的仪器模块分类及特点 | 第9-10页 |
·逻辑分析仪简介 | 第10-12页 |
·逻辑分析仪的产生和发展趋势 | 第10-11页 |
·逻辑分析仪的种类 | 第11页 |
·逻辑分析仪的主要功能 | 第11-12页 |
·逻辑分析仪的关键技术指标 | 第12页 |
·本项目的研究内容及技术要求 | 第12-14页 |
第二章 500MHz LXI 逻辑分析仪数据采集模块总体方案设计 | 第14-21页 |
·500MHz LXI 逻辑分析仪数据采集模块总体结构 | 第14-15页 |
·逻辑分析仪的基本结构 | 第14-15页 |
·500MHz LXI 逻辑分析仪数据采集模块系统组成 | 第15页 |
·500MHz LXI 逻辑分析仪整机结构 | 第15-18页 |
·主要开发器件及开发工具介绍 | 第18-21页 |
·系统主要器件选型 | 第18页 |
·系统原理图设计工具介绍 | 第18-19页 |
·FPGA 数字系统设计工具介绍 | 第19-21页 |
第三章 数据采集模块电路设计 | 第21-32页 |
·探头通道的电路设计 | 第21-28页 |
·采集板的电路设计 | 第28-32页 |
第四章 数据采集模块 FPGA 内部数字系统设计 | 第32-75页 |
·FPGA 内部数字系统总体设计思想 | 第32-33页 |
·FPGA 内部数字系统各部分功能模块设计 | 第33-75页 |
·时钟电路设计 | 第33-36页 |
·毛刺检测电路设计 | 第36-44页 |
·数据采集电路设计 | 第44-50页 |
·触发电路设计 | 第50-66页 |
·数据存储方式设计 | 第66-69页 |
·存储控制电路设计 | 第69-75页 |
第五章 调试与测试 | 第75-86页 |
·测试的主要方法及过程 | 第75-84页 |
·测试所用设备 | 第75-76页 |
·通道的测试 | 第76-78页 |
·数据采集部分的测试 | 第78-80页 |
·触发功能的测试 | 第80-84页 |
·调试中发现的问题及改进 | 第84-86页 |
第六章 结论 | 第86-87页 |
致谢 | 第87-88页 |
参考文献 | 第88-90页 |
攻硕期间取得的研究成果 | 第90-91页 |
附录 | 第91-93页 |