| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-13页 |
| ·大规模集成电路测试课题研究的目的和意义 | 第7-9页 |
| ·大规模集成电路测试课题研究的目的 | 第7-8页 |
| ·大规模集成电路测试课题研究的意义 | 第8-9页 |
| ·大规模集成电路测试的基本原理和相关概念 | 第9-10页 |
| ·基本原理 | 第9页 |
| ·相关概念 | 第9-10页 |
| ·课题的重要性 | 第10页 |
| ·本文研究的内容、方法和创新之处 | 第10-13页 |
| 2 大规模集成电路测试的基本生成 | 第13-27页 |
| ·大规模集成电路测试的基本生成方法的选择 | 第13页 |
| ·故障模拟法的主要思路 | 第13-14页 |
| ·故障模拟法的实现 | 第14-27页 |
| ·确定集成电路故障模式的发生位置 | 第14-15页 |
| ·确定集成电路故障模式出现时所需要的输入条件 | 第15-16页 |
| ·确定集成电路内部模块连接线故障模式出现时所需要的输入条件 | 第15页 |
| ·确定集成电路内部模块的故障模式出现时所需要的输入条件 | 第15-16页 |
| ·确定集成电路前后执行语句相互影响故障模式出现时的输入条件 | 第16页 |
| ·具体测试程序的编写方法 | 第16-26页 |
| ·集成电路内部模块连接线故障模式的模拟方法 | 第17-19页 |
| ·集成电路内部模块故障模式的模拟方法 | 第19-25页 |
| ·集成电路前后执行语句相互影响故障模式的模拟方法 | 第25-26页 |
| ·测试顺序的确定 | 第26-27页 |
| 3 大规模集成电路测试的软件实现 | 第27-38页 |
| ·电路测试的软件实现的准备工作 | 第27-31页 |
| ·大规模集成电路测试软件实现的流程图 | 第31-33页 |
| ·大规模集成电路测试程序的具体写法 | 第33-36页 |
| ·检查标志位是否正常的测试程序 | 第33页 |
| ·检测各模块之间连接故障的测试程序 | 第33-35页 |
| ·检测各模块内部功能故障的测试程序 | 第35-36页 |
| ·检测前后执行语句的次序可能导致的功能故障的测试程序 | 第36页 |
| ·程序的最终完成 | 第36-38页 |
| 4 大规模集成电路测试程序的硬件实现 | 第38-43页 |
| ·硬件设计的主要原理和主要问题 | 第38页 |
| ·硬件设计的主要问题的解决方法 | 第38-41页 |
| ·时钟信号的选择问题的解决方法 | 第38-39页 |
| ·测试系统的I／O驱动／测试管脚的输出信号畸变问题的解决方法 | 第39-40页 |
| ·对芯片的输出信号的采样点选择问题的解决方法 | 第40-41页 |
| ·硬件设计的完成 | 第41-43页 |
| 5 总结 | 第43-46页 |
| 感谢 | 第46-47页 |
| 参考文献 | 第47-49页 |
