| 第一章 绪论 | 第1-10页 |
| 1．1 引言 | 第7-8页 |
| 1．2 直接数字频率合成技术的国内外研究状况及发展趋势 | 第8-9页 |
| 1．3 作者所做的工作 | 第9页 |
| 1．4 本文的结构 | 第9-10页 |
| 第二章 DDS的基本原理及性能分析 | 第10-20页 |
| 2．1 DDS基本结构 | 第10-12页 |
| 2．2 DDS输出的频谱特性 | 第12-20页 |
| 2．2．1 理想情况下DDS输出频谱特性 | 第12-14页 |
| 2．2．2 非理想情况下DDS输出的频谱特性 | 第14-20页 |
| 第三章 硬件电路原理设计 | 第20-37页 |
| 3．1 硬件功能模块 | 第20-22页 |
| 3．1．1 硬件系统结构的详细说明： | 第20-22页 |
| 3．2 硬件电路的原理 | 第22-35页 |
| 3．2．1 电源的设计 | 第22-23页 |
| 3．2．2 主振荡器设计模块 | 第23-25页 |
| 3．2．3 MCU详细设计说明 | 第25-26页 |
| 3．2．4 MCU外围接口控制电路说明 | 第26-35页 |
| 3．3 PCB设计 | 第35-36页 |
| 3．3．1 热设计 | 第35页 |
| 3．3．2 布局和走线 | 第35-36页 |
| 3．3．3 防静电 | 第36页 |
| 3．4 单板设计实物图 | 第36-37页 |
| 第四章 逻辑和软件的设计 | 第37-48页 |
| 4．1 逻辑设计说明 | 第37-41页 |
| 4．1．1 FGPA硬件设计 | 第37页 |
| 4．1．2 逻辑功能实现 | 第37-41页 |
| 4．2 软件设计说明 | 第41-48页 |
| 4．2．1 MCU软件 | 第41-45页 |
| 4．2．2 后台软件 | 第45-48页 |
| 第五章 硬件调试及实验结果分析 | 第48-63页 |
| 5．1 硬件单板的调试 | 第48-54页 |
| 5．1．1 检测单板的主要电压值 | 第48页 |
| 5．1．2 MCU单片机的调试 | 第48-49页 |
| 5．1．3 D／A调试过程 | 第49页 |
| 5．1．4 DDS调试过程 | 第49-51页 |
| 5．1．5 后台界面与单板调试的过程 | 第51-53页 |
| 5．1．6 FPGA调试过程 | 第53-54页 |
| 5．2 实验测试的结果分析 | 第54-63页 |
| 5．2．1 杂散分析 | 第54-57页 |
| 5．2．2 相噪分析 | 第57-58页 |
| 5．2．3 任意频率的输出 | 第58-59页 |
| 5．2．4 任意频率波形 | 第59-60页 |
| 5．2．5 测量抖动和漂移的波形 | 第60-63页 |
| 结束语 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 附录 | 第68-72页 |
| 设计单板原理图 | 第68-72页 |