第一章 引言 | 第1-16页 |
·本论文研究的背景及国内外发展状况 | 第10-14页 |
·非致冷红外热成像技术研究的意义 | 第10-11页 |
·非致冷红外热成像技术国内外研究状况 | 第11-13页 |
·非致冷红外热成像技术的发展方向 | 第13-14页 |
·非致冷红外焦平面阵列读出电路的研究状况 | 第14-15页 |
·本论文研究的目的及主要内容 | 第15-16页 |
第二章 非致冷红外焦平面阵列读出电路的系统设计 | 第16-25页 |
·非致冷红外焦平面阵列物理特性概述 | 第16-17页 |
·非致冷红外焦平面阵列读出电路设计参数的确定 | 第17-18页 |
·非致冷红外焦平面阵列读出电路的系统设计 | 第18页 |
·读出电路偏置方式的讨论 | 第18-23页 |
·单通道读出电路的总体设计 | 第23-24页 |
·小结 | 第24-25页 |
第三章 非致冷红外焦平面阵列读出时序控制电路的设计 | 第25-39页 |
·非致冷红外焦平面阵列选通方案的讨论 | 第25-29页 |
·方案一:电流偏置方案 | 第25-26页 |
·方案二:电压偏置方案 | 第26-28页 |
·两种选通方案的比较 | 第28-29页 |
·读出时序控制电路原理图的设计与仿真 | 第29-35页 |
·读出时序控制电路简介 | 第29页 |
·系统时钟频率和积分时间的确定 | 第29页 |
·时序控制电路的设计 | 第29-32页 |
·时序控制电路的仿真 | 第32-35页 |
·32位移位寄存器的仿真 | 第32-33页 |
·时序控制电路的仿真 | 第33-35页 |
·读出时序控制电路版图的设计与验证 | 第35-38页 |
·版图设计和设计工具Virtuoso的介绍 | 第35页 |
·版图验证和验证工具Dracula的介绍 | 第35-36页 |
·时序控制电路版图的设计 | 第36-37页 |
·版图设计方法和技巧总结 | 第37-38页 |
·小结 | 第38-39页 |
第四章 非致冷红外焦平面阵列积分采样电路的设计 | 第39-66页 |
·积分电路参数的确定 | 第39-40页 |
·积分电路的设计与仿真 | 第40-56页 |
·高性能运算放大器的设计指标 | 第40-42页 |
·增益 | 第40页 |
·单位增益带宽 | 第40-41页 |
·建立时间 | 第41页 |
·转换速率 | 第41页 |
·输入共模范围 | 第41页 |
·输出摆幅 | 第41页 |
·共模抑制比 | 第41页 |
·电源抑制比 | 第41页 |
·静态功耗 | 第41-42页 |
·高性能运算放大器的设计 | 第42-44页 |
·高性能运算放大器的仿真 | 第44-49页 |
·AC仿真 | 第44-46页 |
·瞬态仿真 | 第46-47页 |
·共模抑制比仿真 | 第47-48页 |
·电源抑制比仿真 | 第48-49页 |
·运放偏置电路的设计与仿真 | 第49-54页 |
·偏置电路的设计 | 第49-52页 |
·偏置电路的仿真 | 第52-54页 |
·积分电路的仿真 | 第54-56页 |
·采样保持电路参数的确定 | 第56-57页 |
·采样保持电路的设计与仿真 | 第57-64页 |
·采样保持电路运放的设计 | 第57-58页 |
·采样保持电路运放的仿真 | 第58-62页 |
·AC仿真 | 第58-59页 |
·瞬态仿真 | 第59-60页 |
·共模抑制比仿真 | 第60-61页 |
·电源抑制比仿真 | 第61-62页 |
·采样保持电路的仿真 | 第62-64页 |
·小结 | 第64-66页 |
第五章 结论和展望 | 第66-67页 |
致谢 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-72页 |
在学期间的研究成果 | 第72页 |