| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-6页 |
| 1. 绪论 | 第6-10页 |
| ·颗粒测量的重要意义 | 第6页 |
| ·课题的研究背景 | 第6-9页 |
| ·本文的主要内容 | 第9-10页 |
| 2. 微粒衍射光能环分布的特征分析 | 第10-22页 |
| ·衍射散射式激光测粒仪的工作原理 | 第10-12页 |
| ·光衍射法测量颗粒粒度分布的数学模型 | 第12-15页 |
| ·微粒衍射光能环分布的特征分析 | 第15-20页 |
| ·本章小结 | 第20-22页 |
| 3. 基于颗粒粒度极值分布函数的遗传反演算法 | 第22-44页 |
| ·颗粒粒度常用的反演计算方法 | 第22-25页 |
| ·遗传算法的基本原理 | 第25-30页 |
| ·基于颗粒粒度极值分布函数的遗传反演算法 | 第30-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 4. 数值实验与结果分析 | 第44-50页 |
| ·数值实验 | 第44页 |
| ·结果分析 | 第44-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 5. 结论和展望 | 第50-51页 |
| ·本文的主要工作及结论 | 第50页 |
| ·展望 | 第50-51页 |
| 致谢 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-54页 |
| 附录 | 第54-61页 |