存储器测试技术及其在质量检验中的应用研究
| 1 绪论 | 第1-18页 |
| ·课题的目的和意义 | 第9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-13页 |
| ·数字集成电路现状 | 第9-10页 |
| ·数字集成电路测试系统现状 | 第10-13页 |
| ·发展趋势 | 第13-16页 |
| ·存储器发展趋势 | 第13-15页 |
| ·测试技术发展趋势 | 第15-16页 |
| ·课题的主要工作 | 第16-18页 |
| ·工程应用中面临的问题 | 第16-17页 |
| ·课题任务 | 第17页 |
| ·本论文主要内容 | 第17-18页 |
| 2 存储器测试基本原理 | 第18-35页 |
| ·存储器分类 | 第18页 |
| ·存储器的故障模式 | 第18-30页 |
| ·存储器的结构 | 第18-25页 |
| ·存储器的故障模式 | 第25-30页 |
| ·存储器的测试原理 | 第30-34页 |
| ·测试基本方法 | 第30-32页 |
| ·测试类型 | 第32-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 3 算法在存储器测试生成中的应用 | 第35-51页 |
| ·N型算法生成测试图形 | 第35-39页 |
| ·奇偶性图形检验法 | 第36页 |
| ·齐步法 | 第36-38页 |
| ·其他方法 | 第38-39页 |
| ·N~2算法生成测试图形 | 第39-44页 |
| ·跳步法 | 第39-41页 |
| ·跳步写恢复法 | 第41-44页 |
| ·其他方法 | 第44页 |
| ·N~（3/2）型算法生成测试图形 | 第44-46页 |
| ·行列走步法 | 第45页 |
| ·移动对角线法 | 第45-46页 |
| ·其他方法 | 第46页 |
| ·算法实现举例 | 第46-50页 |
| ·故障类型 | 第46-47页 |
| ·测试原则 | 第47页 |
| ·测试图形生成方法 | 第47-49页 |
| ·测试图形生成应用 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 4 内建自测试在存储器测试中的应用 | 第51-59页 |
| ·内建自测试方法 | 第51页 |
| ·存储器内建自测试 | 第51-53页 |
| ·嵌入式 DRAM的传统测试方法 | 第53-55页 |
| ·集成电路测试设备 | 第53-54页 |
| ·嵌入式 DRAM的故障类型 | 第54页 |
| ·SOC上嵌入式 DRAM的结构特点 | 第54页 |
| ·嵌入式 DRAM的传统的测试方法 | 第54-55页 |
| ·IC测试中的 BIST技术 | 第55-56页 |
| ·BIST技术 | 第55页 |
| ·两种自测试方式 | 第55-56页 |
| ·内建自测试(BIST)电路的结构 | 第56页 |
| ·嵌入式 DRAM的 BIST测试方案 | 第56-58页 |
| ·一种eDRAM的 BIST测试方案 | 第56-57页 |
| ·该方案的原理及优点 | 第57页 |
| ·应用 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 5 工程应用 | 第59-64页 |
| ·测试适配器设计 | 第59-61页 |
| ·测试程序开发 | 第61-62页 |
| ·存储深度与测试效率 | 第62-63页 |
| ·存储深度 | 第62页 |
| ·测试速率 | 第62-63页 |
| ·本章小节 | 第63-64页 |
| 6 结论与展望 | 第64-65页 |
| ·结论 | 第64页 |
| ·展望 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-68页 |
| 作者在攻读硕士期间科研成果简介 | 第68-69页 |
| 声明 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
