MI自动测试系统的开发
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| 英文摘要 | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-12页 |
| 1．1 测试技术的作用 | 第7-8页 |
| 1．2 什么是自动测试系统 | 第8-9页 |
| 1．3 自动测试系统的发展历程 | 第9-10页 |
| 1．4 我国自动测试系统的发展现状 | 第10-11页 |
| 1．5 磁性材料MI特性测试现状 | 第11页 |
| 1．6 课题来源与主要研究内容 | 第11-12页 |
| 第二章 MI自动测试系统分析与结构设计 | 第12-24页 |
| 2．1 系统功能需求分析 | 第12-13页 |
| 2．2 现有资源分析 | 第13-14页 |
| 2．3 GPIB标准接口介绍 | 第14-21页 |
| 2．4 MI自动测试系统的硬件结构 | 第21页 |
| 2．5 MI自动测试系统的软件结构 | 第21-22页 |
| 2．6 系统的工作过程 | 第22-24页 |
| 第三章 MI自动测试系统的详细设计 | 第24-32页 |
| 3．1 测试探头的详细设计 | 第24页 |
| 3．2 数据打印显示模块详细设计 | 第24-25页 |
| 3．3 数据处理模块详细设计 | 第25-26页 |
| 3．4 计算机与仪器间的通信过程设计 | 第26页 |
| 3．5 MI系统中同步问题分析 | 第26-28页 |
| 3．6 抗干扰技术讨论 | 第28-29页 |
| 3．7 自适应滤波技术讨论 | 第29-32页 |
| 第四章 MI自动测试系统的实现 | 第32-40页 |
| 4．1 系统硬件部分实现 | 第32-33页 |
| 4．2 系统软件部分实现 | 第33-40页 |
| 第五章 MI自动测试系统的调试和测试结果分析 | 第40-48页 |
| 5．1 硬件调试 | 第40-44页 |
| 5．2 软件调试 | 第44-47页 |
| 5．3 结论 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-50页 |
| 致谢 | 第50页 |
