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基于CMOS工艺的10位逐次逼近型模数转换器设计

摘要第1-6页
Abstract第6-9页
第一章 绪论第9-15页
   ·模数转换器的发展第9-12页
     ·模数转换技术的研究发展第9-10页
     ·国外、国内模数转换器的最新发展水平第10-11页
     ·模数转换器的发展趋势第11-12页
   ·研究目的及意义第12-13页
   ·论文的主要内容第13-15页
第二章 模数转换器的原理及常见结构第15-29页
   ·模数转换器(ADC)的基本原理第15-16页
   ·模数转换器(ADC)性能参数第16-20页
     ·静态特性参数第16-18页
     ·动态特性参数第18-20页
   ·几种主要类型ADC 及特点第20-26页
     ·全并行闪烁(Full-Flash)ADC第21-22页
     ·两步式(Two-Step Flash)ADC第22页
     ·折叠(Folding)ADC第22-23页
     ·流水线(Pipelined)ADC第23-24页
     ·逐次逼近型(Successive Approximation)ADC第24-25页
     ·时间交叉(Time Interleaved)ADC第25-26页
     ·过采样∑–Δ(Sigma-Delta)ADC第26页
   ·ADC 结构的确定第26-27页
   ·本章小结第27-29页
第三章 逐次逼近型ADC 设计原理第29-49页
   ·采样保持电路第29-31页
     ·简单采样保持电路第29-30页
     ·电容下极板采样技术第30-31页
   ·比较器第31-44页
     ·比较器的基本功能第31-32页
     ·比较器的性能参数第32-35页
     ·锁存比较器第35-41页
     ·失调电压校准技术第41-44页
   ·数模转换器(DAC)第44-48页
     ·电阻分压型DAC第44-45页
     ·电荷重分配型DAC第45-46页
     ·电压电荷混合型DAC第46-48页
   ·本章小结第48-49页
第四章 逐次逼近型ADC 主要模块的设计及仿真第49-65页
   ·传统逐次逼近型ADC第49-50页
   ·失调自校准比较器第50-55页
   ·数模转换器(DAC)第55-60页
     ·DAC 设计第55-57页
     ·DAC 非线性分析第57-58页
     ·电容阵列设计考虑第58-60页
     ·电阻阵列设计考虑第60页
   ·模拟开关和两相非交叠时钟产生电路第60-62页
   ·SAR 逻辑控制电路第62-63页
   ·本章小结第63-65页
第五章 版图设计第65-73页
   ·工艺介绍第65-67页
   ·混合信号版图的设计考虑第67-70页
   ·整体布局及版图设计第70-71页
   ·本章小结第71-73页
第六章 总结与展望第73-75页
致谢第75-77页
参考文献第77-80页
攻读硕士期间的研究工作第80-81页

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