| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-9页 |
| ·课题研究意义和现状 | 第7-8页 |
| ·全文内容安排 | 第8-9页 |
| 第二章 电子器件噪声的特点及其分析方法 | 第9-17页 |
| ·电子器件噪声的分类和特点 | 第9-10页 |
| ·电子器件噪声传统分析方法的不足 | 第10-11页 |
| ·复杂性理论及意义 | 第11-17页 |
| ·复杂性的概念与表征 | 第11-13页 |
| ·电子器件噪声复杂性分析的意义 | 第13-17页 |
| 第三章 电子器件噪声的复杂性分析方法 | 第17-47页 |
| ·关联熵和关联维研究 | 第17-26页 |
| ·相空间重构 | 第17-18页 |
| ·关联熵和关联维的定义、算法及特性 | 第18-21页 |
| ·程序的实现及验证 | 第21-23页 |
| ·模拟噪声的关联熵和关联维 | 第23-26页 |
| ·Lempel-Ziv 复杂度方法研究 | 第26-37页 |
| ·符号动力学简介 | 第26页 |
| ·Lempel-Ziv 复杂度的定义、算法及特性 | 第26-28页 |
| ·过度粗粒化问题及解决方法 | 第28-31页 |
| ·程序的实现及验证 | 第31-34页 |
| ·模拟噪声的Lempel-Ziv 复杂度 | 第34-37页 |
| ·涨落复杂度方法研究 | 第37-44页 |
| ·涨落复杂度的定义 | 第37-39页 |
| ·涨落复杂度的算法及特性 | 第39-40页 |
| ·Bernoulli 限制曲线及 Complexity-Random 图 | 第40-41页 |
| ·程序的实现及验证 | 第41-42页 |
| ·模拟噪声的涨落复杂度 | 第42-44页 |
| ·电子器件噪声复杂性新表征方法探索 | 第44-47页 |
| 第四章 电子器件噪声复杂性分析软件及应用 | 第47-63页 |
| ·电子器件噪声复杂性分析软件设计 | 第47-52页 |
| ·Matlab 的GUI 技术 | 第47-48页 |
| ·电子器件噪声复杂性分析软件的实现 | 第48-52页 |
| ·Al 互连电迁移噪声的复杂性分析 | 第52-57页 |
| ·复杂性参量表征 | 第52-55页 |
| ·机理分析 | 第55-57页 |
| ·MOSFET 噪声的复杂性分析 | 第57-63页 |
| ·无偏辐照的复杂性分析 | 第57-59页 |
| ·不同偏压下的复杂性分析 | 第59-60页 |
| ·不同栅压下的复杂性分析 | 第60-63页 |
| 第五章 总结与展望 | 第63-65页 |
| ·论文完成工作 | 第63页 |
| ·展望 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-67页 |
| 参考文献 | 第67-72页 |
| 在研期间主要研究成果 | 第72-73页 |