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基于数据的非侵入式闭环工业系统模型失配检测

摘要第5-7页
Abatract第7-12页
1 绪论第12-26页
    1.1 研究目的和意义第12-14页
    1.2 国内外研究现状第14-23页
    1.3 论文研究内容及结构安排第23-26页
2 带有EWMA批间控制器的半导体制程的模型失配检测第26-48页
    2.1 引言第26-27页
    2.2 带有EWMA批间控制器的半导体生产过程第27-31页
    2.3 白噪声和扰动模型的估计第31-33页
    2.4 基于数据的半导体制程的模型失配检测第33-38页
    2.5 仿真和实例研究第38-46页
    2.6 本章小结第46-48页
3 基于自适应Lasso的SISO闭环控制系统的模型失配检测第48-78页
    3.1 引言第48-49页
    3.2 基于IMC结构的闭环系统的干扰更新第49-53页
    3.3 基于自适应Lasso方法的干扰模型估计第53-57页
    3.4 模型失配的检测第57-61页
    3.5 仿真和实例研究第61-77页
    3.6 本章小结第77-78页
4 基于自适应Lasso的MIMO闭环控制系统的模型失配检测第78-99页
    4.1 引言第78-79页
    4.2 MIMO控制系统的白噪声第79-81页
    4.3 MIMO控制系统的模型失配检测第81-88页
    4.4 仿真和实例研究第88-98页
    4.5 本章小结第98-99页
5 闭环控制系统模型失配的统计在线监控第99-119页
    5.1 引言第99-100页
    5.2 模型评价指标第100-102页
    5.3 模型评价指标的在线监控第102-106页
    5.4 仿真和实例研究第106-118页
    5.5 本章小结第118-119页
6 总结与展望第119-122页
    6.1 全文总结第119-120页
    6.2 研究展望第120-122页
致谢第122-124页
参考文献第124-140页
附录 I 攻读博士学位期间发表和投稿的论文与专利目录第140-142页
附录 II 攻读博士学位期间参与的科研项目第142-143页
附录 III 公开发表和投稿的学术论文与博士学位论文的关系第143-144页

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