一种10位逐次逼近型ADC的研究与设计
| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| 1.1 本课题的研究背景及意义 | 第7页 |
| 1.2 模数转换器的发展 | 第7-9页 |
| 1.3 论文结构安排 | 第9-11页 |
| 第二章 ADC基本原理概述 | 第11-23页 |
| 2.1 ADC的基本原理 | 第11-12页 |
| 2.2 ADC的性能指标 | 第12-16页 |
| 2.2.1 ADC静态性能指标 | 第12-15页 |
| 2.2.2 ADC动态性能指标 | 第15-16页 |
| 2.3 ADC主要结构 | 第16-21页 |
| 2.3.1 快闪型(Flash)ADC | 第16-18页 |
| 2.3.2 逐次逼近型(SAR)ADC | 第18页 |
| 2.3.3 过采样∑-△ ADC | 第18-19页 |
| 2.3.4 流水线型(Pipeline)ADC | 第19-20页 |
| 2.3.5 几种常见ADC结构性能比较 | 第20-21页 |
| 2.4 小结 | 第21-23页 |
| 第三章 逐次逼近型ADC的系统设计 | 第23-37页 |
| 3.1 数模转换器的设计 | 第23-26页 |
| 3.1.1 分段电容阵列结构DAC | 第23-25页 |
| 3.1.2 电阻电容混合结构DAC | 第25-26页 |
| 3.2 比较器的设计 | 第26-31页 |
| 3.2.1 比较器的特性 | 第26-28页 |
| 3.2.2 高精度比较器设计 | 第28-29页 |
| 3.2.3 比较器失调电压消除技术 | 第29-31页 |
| 3.3 SAR ADC的非理想因素分析 | 第31-35页 |
| 3.3.1 噪声分析 | 第31-33页 |
| 3.3.2 开关非理想因素分析 | 第33-35页 |
| 3.4 小结 | 第35-37页 |
| 第四章 ADC主要电路模块设计及仿真 | 第37-51页 |
| 4.1 SAR ADC整体结构 | 第37-38页 |
| 4.2 10位DAC的设计 | 第38-42页 |
| 4.2.1 DAC的整体结构 | 第38-39页 |
| 4.2.2 开关的选择 | 第39-40页 |
| 4.2.3 DAC的仿真结果 | 第40-42页 |
| 4.3 比较器的设计 | 第42-47页 |
| 4.3.1 比较器的整体设计 | 第42-45页 |
| 4.3.2 比较器失调电压消除 | 第45-47页 |
| 4.4 逐次逼近移位寄存器设计 | 第47-49页 |
| 4.5 小结 | 第49-51页 |
| 第五章 版图设计及系统仿真 | 第51-59页 |
| 5.1 版图设计 | 第51-54页 |
| 5.1.1 比较器的版图设计 | 第52-53页 |
| 5.1.2 DAC的版图设计 | 第53-54页 |
| 5.2 SAR ADC系统仿真 | 第54-57页 |
| 5.2.1 SAR ADC系统瞬态仿真 | 第55页 |
| 5.2.2 动态特性仿真 | 第55-57页 |
| 5.3 小结 | 第57-59页 |
| 第六章 总结与展望 | 第59-61页 |
| 6.1 总结 | 第59页 |
| 6.2 展望 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-66页 |
