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BiTe/SbTe超晶格薄膜的拓扑绝缘特性研究

摘要第4-5页
Abstract第5页
1 绪论第7-16页
    1.1 引言第7页
    1.2 量子霍尔效应第7-11页
    1.3 拓扑绝缘体研究进展第11-13页
    1.4 本课题的意义第13-16页
2 计算原理及模拟软件介绍第16-25页
    2.1 绝热近似与单电子近似第16-17页
    2.2 密度泛函理论第17-19页
    2.3 交换关联泛函第19页
    2.4 自洽计算第19-20页
    2.5 原子赝势第20-22页
    2.6 结构优化第22-24页
    2.7 模拟软件介绍第24-25页
3 超晶格薄膜拓扑绝缘特性计算第25-31页
    3.1 晶体结构模型的建立第25-27页
    3.2 结构优化第27页
    3.3 能带结构的计算第27-29页
    3.4 态密度的计算第29-31页
4 计算结果及分析第31-44页
    4.1 Sb_2Te_3基拓扑绝缘体材料第31-34页
    4.2 Bi_2Te_3基拓扑绝缘体材料第34-36页
    4.3 Bi_2Te_3/Sb2Te3超晶格薄膜的能带分析第36-44页
5 总结与展望第44-46页
致谢第46-47页
参考文献第47-49页

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