| 摘要 | 第3-5页 |
| Abstract | 第5-6页 |
| 第一章 引言 | 第12-21页 |
| 1.1 标准模型 | 第12-15页 |
| 1.2 粲偶素及其衰变 | 第15-17页 |
| 1.2.1 粲偶素家族 | 第15-16页 |
| 1.2.2 粲偶素的衰变 | 第16-17页 |
| 1.3 选题背景 | 第17-19页 |
| 1.4 论文结构 | 第19-20页 |
| 1.5 本章小结 | 第20-21页 |
| 第二章 北京正负电子对撞机和北京谱仪 | 第21-31页 |
| 2.1 北京正负电子对撞机 | 第21页 |
| 2.2 北京谱仪 | 第21-26页 |
| 2.2.1 主漂移室 | 第22-23页 |
| 2.2.2 飞行时间计数器 | 第23页 |
| 2.2.3 电磁量能器 | 第23-24页 |
| 2.2.4 μ子探测器 | 第24页 |
| 2.2.5 电子学系统 | 第24-25页 |
| 2.2.6 触发判选系统(Trigger System) | 第25页 |
| 2.2.7 在线数据获取系统(DAQ) | 第25-26页 |
| 2.3 BESⅢ离线软件系统 | 第26-31页 |
| 2.3.1 BESⅢ离线数据框架(BOSS)和离线数据处理流程 | 第27页 |
| 2.3.2 BESⅢ探测器模拟系统(BOOST) | 第27-28页 |
| 2.3.3 BESⅢ离线刻度系统 | 第28页 |
| 2.3.4 BESⅢ离线重建系统 | 第28-29页 |
| 2.3.5 BESⅢ的产生子 | 第29-31页 |
| 第三章 ψ’→π~+π~-J/ψ,J/ψ→γP,P→γγ的研究 | 第31-47页 |
| 3.1 事例初选 | 第31-32页 |
| 3.2 事例终选 | 第32-35页 |
| 3.3 本底分析 | 第35-37页 |
| 3.4 γγ不变质量谱拟合 | 第37-44页 |
| 3.5 蒙特卡洛样本及其形状的检查 | 第44页 |
| 3.6 J/ψ→γ(π~0,η,η’)分支比计算 | 第44-46页 |
| 3.7 J/ψ→γ[η(1405),η(1475),η(1760),X(1835)]→γγγ分支比计算 | 第46页 |
| 3.8 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 系统误差分析 | 第47-53页 |
| 4.1 MDC径迹重建 | 第47页 |
| 4.2 光子的重建效率 | 第47页 |
| 4.3 4C运动学拟合 | 第47-48页 |
| 4.4 本底的不确定性 | 第48-51页 |
| 4.4.1 J/ψ sideband区间 | 第48页 |
| 4.4.2 本底形状 | 第48页 |
| 4.4.3 拟合范围 | 第48-51页 |
| 4.5 探测效率 | 第51页 |
| 4.6 ψ’→π~+π~-J/ψ和P→γγ(P=π~0,η,η’)的分支比 | 第51页 |
| 4.7 ψ’事例总数 | 第51页 |
| 4.8 总系统误差 | 第51页 |
| 4.9 本章小结 | 第51-53页 |
| 第五章 总结 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
