玉米叶片的光学特性获取与分析
| 致谢 | 第7-9页 |
| 摘要 | 第9-11页 |
| Abstract | 第11-13页 |
| 第1章 绪论 | 第20-31页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第20-21页 |
| 1.2 国内外研究进展 | 第21-28页 |
| 1.2.1 光学特性获取装置 | 第21-25页 |
| 1.2.2 叶片光学特性检测方法 | 第25-26页 |
| 1.2.3 叶片光学特性的模型简介 | 第26-28页 |
| 1.2.4 国内外研究存在的主要问题 | 第28页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第28-30页 |
| 1.4 技术路线图 | 第30页 |
| 1.5 本章小结 | 第30-31页 |
| 第2章 材料与方法 | 第31-41页 |
| 2.1 引言 | 第31页 |
| 2.2 玉米叶片光学特性采集设备 | 第31-36页 |
| 2.2.1 基本概念 | 第32-33页 |
| 2.2.2 系统操作 | 第33页 |
| 2.2.3 光源 | 第33-34页 |
| 2.2.4 光谱仪探测器 | 第34-35页 |
| 2.2.5 光纤探测器 | 第35页 |
| 2.2.6 试验样本 | 第35-36页 |
| 2.3 数据处理软件 | 第36-38页 |
| 2.3.1 1stOpt软件 | 第36-37页 |
| 2.3.2 Matlab软件 | 第37-38页 |
| 2.3.3 SPSS软件 | 第38页 |
| 2.4 试验材料与设计 | 第38-40页 |
| 2.4.1 试验对象选取 | 第38-39页 |
| 2.4.2 玉米样本种植 | 第39页 |
| 2.4.3 玉米样本培育 | 第39-40页 |
| 2.5 本章小结 | 第40-41页 |
| 第3章 背景对玉米叶片光学特性的影响分析 | 第41-60页 |
| 3.1 引言 | 第41-42页 |
| 3.2 理论与方法 | 第42-46页 |
| 3.2.1 PLATE模型 | 第42页 |
| 3.2.2 BPLT模型 | 第42-44页 |
| 3.2.3 叶绿素植被指数 | 第44页 |
| 3.2.4 评价标准 | 第44-46页 |
| 3.3 试验材料与仪器 | 第46-47页 |
| 3.3.1 叶片样本的准备 | 第46页 |
| 3.3.2 叶绿素测定 | 第46-47页 |
| 3.4 BPLT模型的模拟 | 第47-55页 |
| 3.4.1 不同光源方位角BPLT模型参数的比较 | 第47-49页 |
| 3.4.2 BPLT模型的背景扣除比较 | 第49-51页 |
| 3.4.3 玉米叶片不同水平背景扣除的分析 | 第51-53页 |
| 3.4.4 不同背景输入的模型扣除效果 | 第53-55页 |
| 3.5 BPLT模型的验证 | 第55-58页 |
| 3.5.1 背景单因素方差分析 | 第55-57页 |
| 3.5.2 多因素方差分析 | 第57-58页 |
| 3.6 本章小结 | 第58-60页 |
| 第4章 Spectralon板的校正 | 第60-71页 |
| 4.1 引言 | 第60-61页 |
| 4.2 校正理论 | 第61-63页 |
| 4.3 试验材料与方法 | 第63-64页 |
| 4.3.1 试验材料 | 第63页 |
| 4.3.2 操作步骤 | 第63-64页 |
| 4.4 结果与讨论 | 第64-69页 |
| 4.4.1 S板最佳天顶角确定 | 第64-65页 |
| 4.4.2 S板的通用模型 | 第65-69页 |
| 4.5 本章小结 | 第69-71页 |
| 第5章 氮素胁迫下玉米叶片的模拟 | 第71-84页 |
| 5.1 引言 | 第71页 |
| 5.2 试验材料与方法 | 第71-75页 |
| 5.2.1 氮素胁迫下玉米生长的前期监测 | 第72-74页 |
| 5.2.2 玉米叶片BRDF光学特性处理平台 | 第74-75页 |
| 5.3 氮素胁迫下玉米叶片的模拟分析 | 第75-82页 |
| 5.3.1 不同波段下玉米叶片双向反射分布 | 第76-79页 |
| 5.3.2 不同氮素胁迫玉米叶片双向反射分布 | 第79-81页 |
| 5.3.3 玉米叶片不同位置处双向反射特性 | 第81-82页 |
| 5.4 本章小结 | 第82-84页 |
| 第6章 结论与展望 | 第84-87页 |
| 6.1 结论 | 第84-85页 |
| 6.2 主要创新点 | 第85-86页 |
| 6.3 展望 | 第86-87页 |
| 参考文献 | 第87-91页 |
| 作者简历 | 第91页 |
